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文件编号 版次 测量系统分析控制程序 □一阶文件　■二阶文件　□三阶文件　□四阶文件 测量系统分析控制程序 1．目的 对测量系统能力进行分析，并根据分析结果决定系统是否能接受或需要改进，以确保产品满足规定要求。 2．适用范围 适用于本公司与产品有关的测量系统。 3．定义与省略语 4．主要内容 .1职责 .1.1质量部是本程序的归口管理部门，负责测量系统分析。.1.2各有关部门做好测量系统分析的配合工作。 .2 工作流程 .2.1　测量系统分析计划 .2.1.1质量部根据控制计划编制年度测量系统分析计划，编制时考虑量具的不同类别、精度、规格、使用特点及不同产品.2.1.2 测量系统分析经经理批准后，由组织实施。 .2.2 　测量系统分析准备 .2.2.1确定分析方法：所应用的分析方法与测量系统分析手册相一致，如重复性、再现性、偏倚、稳定性、线性等。 .2.2.2 确定评价人、样品数量和试验次数。 .2.2.3 评价人为日常操作该测量的人员。 .2.2.4 分析人员，由技术人员或负责人担任。 上海安宇峰实业有限公司 文件编号 版次 测量系统分析控制程序 □一阶文件　■二阶文件　□三阶文件　□四阶文件 4.2.2.5 分析人员对零件进行编号。 .2.2.6 确定测量方法 a）测量零件按随机顺序进行，分析人员知其编号，评价人不知其编号。 b) 每个评价人采取相同的步骤读取数据。 .2.3 测量系统分析实施 .2.3.1实施步骤参见测量系统分析手册中的研究指南。 2.3.2分析人员负责组织进行测量系统分析工作，并填写相应记录。 .2.3.3分析人员对测量结果进行数据处理和分析。 .2.4 测定系统的评定 d) 明显的非随机图形 凡呈现不稳定状态（失控）时，必须对量具进行校准或维修。 4.2.4.2 偏倚分析（采用独立样本法） 1）选取样品并确定其相对于可追溯标准的基准值。 2）由一位操作员（评价人）以常规的方式对每个样品测量10次，并计算了10次的平均值，此值即为“观测平均值”。 3）计算偏倚 偏倚＝观测平均值－基准值 偏倚％＝（ 偏移/过程变差 )×100% 过程变差无法求得时，可用规格公差代替，这样“偏倚”的计算公式中分式中分母使用“规格公差”代替。 4）偏倚接受准则： a)对测量重要特性的，其系统偏倚％≤10%时可接受。 b)测量一般特性的，其系统偏倚％≤30％时可接受。 上海安宇峰实业有限公司 文件编号 版次 测量系统分析控制程序 □一阶文件　■二阶文件　□三阶文件　□四阶文件 c)偏倚％＞30%时拒绝接受。 5）偏倚分析记录于《量具偏倚分析报告》。 6）分析结果：如果偏倚较大，查找以下几方面可能原因： a)标准或基准值有误差，检验校准程序； b)仪器有磨损，主要表现在稳定性分析上，应制定维护或重新修理的计划； c)仪器尺寸不对； d)评价人操作设备不当，复查检验说明书； e)测量了错误的特性； f)仪器校准不正确，复查校准方法； g)仪器修正计算不正确。 4.2.4.3 重复性和再现性分析（RR或GRR) 确定研究对象、工序、量具、产品和质量特性采用下列方法进行分析； 1）极差法（R) a)选取两位评价人和抽取5个产品，每个人对每个产品盲测一次，将测量结果记入《量具极差法分析报告》表格中； b)用表中的公式计算％GRR（当过程变差不易求得时，公式中过程变差可用规格公差代替）； c)%GRR接受准则： %GRR＜10%可接受。 10%≤%XR≤30%,依据量具的重要性、成本及维修费用，决定是否接受。 %XR＞30％不能接受，必须改进。 e)结果分析 当重复性（EV）变异值大于再现性（AV)时，可采取下列措施： 仪器需要维护：器具应重新设计来提高精度：夹紧和检验点需要改进：存在过大的零件内变差。 当再现性（AV)变异值大于重复性（EV)时，应考虑： 加强对评价人员的量具使用和读数的培训：量具刻度盘上的刻度不清楚， 需要某种夹具帮助评价人提高使用量具的一致性。 4.2.4.4 线性分析： 1）选5个产品，它们的测量值应覆盖规格公差带。 2）用更精密的量具测量每个产品以确定它们的基准值，并验证其尺寸覆盖了公差带。 上海安宇峰实业有限公司 文件编号 版次 测量系统分析控制程序 □一阶文件　■二阶文件　□三阶文件　□四阶文件 3）由被分析量具的操作员（评价人）盲测每个产品各10次（