结合扫描电子显微镜和纳米探针研究.docVIP

附件2 论文中英文摘要 作者姓名：魏贤龙 论文题目：结合扫描电子显微镜和纳米探针研究碳纳米管的操控和力学电学特性 作者简介：魏贤龙，男，1982年08月出生，2004年09月师从于北京大学陈清教授，于2009年07月获博士学位。 中 文 摘 要 碳纳米管由于具有奇特的结构、独特的物理性质以及广泛的应用前景，近二十年一直是研究的前沿和热点。独特的力学、电学特性是碳纳米管很多应用的基础。但是，目前的生长方法还不能制备出具有相同结构的碳纳米管；碳纳米管的螺旋度、直径、长度、缺陷等方面的个体差异性，导致其力学、电学性质也存在相应的个体差异性。因此，基于碳纳米管薄膜或团簇的传统的物性测量手段只能得到大量碳纳米管的平均特性。发展先进的物性测量手段，使得单根碳纳米管的物理性质与其结构对应起来，对于深入研究碳纳米管的物理特性和应用具有重要的意义。电子显微镜是观测纳米尺度材料结构的最直接工具。电子显微镜和具有测量和纳米操纵功能的纳米探针的结合，将人的眼睛和手同时延伸到了纳米尺度，提供了一个直观、实时和原位地测量纳米材料物性的研究手段，能够实现单根纳米材料的结构与其物理性质的对应。本论文以碳纳米管为主要研究对象，系统研究了如何结合扫描电子显微镜和纳米探针对单根一维纳米材料进行加工、操控和测量的问题，并在此基础上研究了碳纳米管的力学、电学特性，在两个大方面取得了长足的进展： 对碳纳米管的纳