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- 2016-12-26 发布于重庆
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光学光刻中掩模频谱研究
电子与通信工程系应用物理学专业2005级一班肖学美
指导老师:周远 讲师
摘 要
本文从频谱角度分析传统二元掩模和几种相移掩模,通过对各种掩模透过率函数进行频谱计算建立数学模型。在此基础上利用MATLAB7.0软件设计仿真程序界面,仿真得出各种掩模的频谱。通过比较分析各种掩模频谱,得出各自特点和优缺点。结果表明,相对于传统二元掩模,衰减相移掩模0级衍射光减弱,1级衍射光增强;交替相移掩模和无铬掩模0级光干涉相消,为两束光干涉(±1级)。相移掩模使参与成像的相干光光强更匹配,可显著提高成像对比度,是一种有效的分辨率增强技术。
关键词:光学光刻,相移掩模,掩模频谱,成像对比度
引言
半导体产业已成为事关国民经济,国防建设,人民生活和信息安全的基础性,战略性产业。在传统二元掩模技术无法满足工业发展要求条件下,作为重要的分辨率增强技术——相移掩模技术得到了很快的发展。我国对相移掩模技术的研究才刚起步,其光掩模制造业也仅能满足国内低档产品的要求,因此对高分辨率光刻掩模进行前瞻性研究势在必行。
为了进一步研究光学光刻中的掩模频谱及相移掩模对成像对比度的影响,用实验的方法来验证或设计相移掩模显然既费时又昂贵,因而仿真模拟已成为重要的研究手段。本设计运用MATLAB的图形用户界面建立该仿真模型。同时在该过程中对线条周期、透过率、线条宽度等条件变化在掩模频
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