实验一基本门电路的逻辑功能测试工学设计.docVIP

实验一 基本门电路的逻辑功能测试 一、实验目的 1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2、了解测试的方法与测试的原理。 二、实验原理 实验中用到的基本门电路的符号为： 在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。 三、实验设备与器件 1、数字逻辑电路实验箱。 2、数字逻辑电路实验箱扩展板。 3、相应74LS系列芯片若干。 四、实验内容 测试TTL门电路的逻辑功能： 测试74LS08（与门）的逻辑功能。 测试74LS32（或门）的逻辑功能。 测试74LS04（非门）的逻辑功能。 测试74LS00（与非门）的逻辑功能。 测试74LS02（或非门）的逻辑功能。 测试74LS86（异或门）的逻辑功能。 五、实验步骤 1、按照芯片的管脚分布图接线（注意高低电平的输入和高低电平的显示）。 2、测试各个芯片的逻辑功能 六、实验报告要求 画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。 根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并判断逻辑门的好坏。 实验二 编码器及其应用 一、实验目的 掌握一种门电路组成编码器的方法。 掌握8 -3线优先编码器74LS148，10 -4线优先编码器74LS147的功能。 二、实验原理 1、8-3线优先编码器74LS148 编码器74LS