SOI器件和电路制造工艺 主要内容 集成电路制备工艺 SOI的挑战与机遇 SOI器件和电路制备技术 几种新型SOI电路制备技术 集成电路设计与制造的主要流程框架 集成电路芯片的显微照片 集成电路制造工艺 前工序 后工序 辅助工序 前工序:集成电路制造工序 图形转换:将设计在掩膜版(类似于照相底片)上的图形转移到半导体单晶片上 掺杂:根据设计的需要,将各种杂质掺杂在需要的位置上,形成晶体管、接触等 制膜:制作各种材料的薄膜 前工序:集成电路制造工序 图形转换: 光刻:接触光刻、接近光刻、投影光刻、电子束光刻 刻蚀:干法刻蚀、湿法刻蚀 掺杂: 离子注入 退火 扩散 制膜: 氧化:干氧氧化、湿氧氧化等 CVD:APCVD、LPCVD、PECVD PVD:蒸发、溅射 后工序 划片 封装 测试 老化 筛选 辅助工序 超净厂房技术 超纯水、高纯气体制备技术 光刻掩膜版制备技术 材料准备技术 隔离技术 PN结隔离 场区隔离 绝缘介质隔离 沟槽隔离 接触与互连 Al是目前集成电路工艺中最常用的金属互连材料 但Al连线也存在一些比较严重的问题 电迁移严重、电阻率偏高、浅结穿透等 Cu连线工艺有望从根本上解决该问题 IBM、Motorola等已经开发成功 目前,互连线已经占到芯片总面积的70~80%;且连线的宽度越来越窄,电流密度迅速增加 SOI挑战与机遇 器件尺寸缩小带
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