x射线衍射-4综述.pptVIP

X射线衍射仪 装置 X射线仪是以特征X射线照射多晶体或粉末样品，用射线探测器和测角仪来探测衍射线的强度和位置，并将它们转化为电信号，然后借助于计算机技术对数据进行自动记录、处理和分析的仪器。 现代X射线衍射仪衍射仪由X射线发生器、X射线测角仪、辐射探测器和辐射探测电路4个基本部分组成。 工作原理 只测量平行于样品表面的晶面,试样和测角仪以1:2的角速度转动 衍射仪光路图 参数选择 狭缝宽度 增加发散狭缝宽度可增强入射光，虽然这对提高灵敏度、减少测量时间和强度的统计误差有利．但同时也会降低分辨率。要想得到高的分辨率，就必须用小的接收狭缝。 扫描速度 是指接收狭缝和计数器转动的角速度。增大扫描速度可节约测试时间，但将导致强度和分辨率的下降 时间常数 表示电路对信号反映的快慢，时间常数越小，反映越快．增大时间常数，可减少统计涨落，从而使衍射线及背底变得平滑，但同时将降低峰高和分辨率． 一、X射线技术介绍 X射线高角衍射技术是一种在某衍射峰附近的?/2?扫描方式，它可以提供关于薄膜的生长方向，相变，晶面间距以及织构等方面的信息，通过线形分析和线宽等的分析，还可以测定晶体的某些缺陷，如堆垛层错，应力应变等。在衍射峰位作摇摆曲线(探测器固定在峰位，在峰的附近作?扫描)，根据半高宽可以判断薄膜的质量。 La0.8Ca0.2MnO3薄膜厚度对微结构的影响 正切/斜切La0