《066285锥光系统二轴晶-2.pptVIP

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  • 2016-12-28 发布于北京
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第五章.锥光系统下晶体的光学性质 第三节. 二轴晶干涉图 一. 垂直锐角等分线切面干涉图 一. 垂直锐角等分线切面干涉图 2. 垂直锐角等分线切面干涉图的成因 3.垂直Bxa切面干涉图的应用 二. 垂直一个光轴切面的干涉图 1.干涉图特点: 2.垂直一个光轴切面干涉图的应用 (1).确定轴性及切片类型 ( 2V 小于80o ); (2).测定光性符号; (3).测定光轴角大小. 三. 斜交光轴切面干涉图 1.干涉图特点 近于垂直光轴切面干涉图的特点 2.二轴晶斜交切面干涉图的应用 (1)确定轴性及切片类型 (2)测定光性符号 四.平行光轴面切面干涉图 1.干涉图特征:与一轴晶平行光轴的干涉图相似,也称瞬变干涉图或闪图. (1).当切面的Bxa与Bxo分别平行上下偏光的振动方向时, 视域出现一个粗大模糊的黑十字,几乎充满视域. (2).转动物台小角度(7o -10o ),黑十字迅速分裂为两个双曲线形状黑臂逸出视域,黑臂逸出方向为Bxa方向. (3).转到45o位置时视域最亮,并出现干涉色 若矿片双折射率较大或矿片较厚时,可以看到对称的干涉色带,从中心向外缘,沿Bxa方向上的两个象限,干涉色降低,沿Bxo方向的两个象限干涉色升高. 2.干涉图应用:主要用以确定切面类型,但当轴性已知时,可用来测定光性正负。 四.平行光轴面切面干涉图 干涉图特点 五.垂直钝角等分线(B

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