中南大学自动控制原理实验简析.doc

信息科学与工程学院 预定时间 实验时间 姓名 授课教师 专业班级 实验结果： 当R0=200K；R1=100K。 输出电压约为输入电压的1/2，误差范围内满足理论波形， 当R0 = 200K； R1 = 200K。 积分环节 模拟电路图： 当R0=200K；C=1uF。 实验结果： 当R0 = 200K； C = 2uF。 比例积分环节 (PI) 模拟电路图： 取 R0 = R1 = 200K； C = 1uF。 实验结果 取 R0=R1=200K； C=2uF。 惯性环节 (T) 取 R0=R1=200K； C=1uF。 取 R0=R1=200K； C=2uF。 比例微分环节 (PD) 模拟电路图： 取 R0 = R2 = 100K， R3 = 10K， C = 1uF； R1 = 100K。 取 R0=R2=100K， R3=10K， C=1uF； R1=200K。 比例积分微分环节 (PID) 模拟电路图： 取 R2 = R3 = 10K， R0 = 100K， C1 = C2 = 1uF； R1 = 100K。 取 R2 = R3 = 10K， R0 = 100K， C1 = C2 = 1uF； R1 = 200K。 实验步骤 按 1.1.3 节中所列举的比例环节的模拟电路图将线接好。 检查无误后开启设备电源。 2. 将信号源单元的“ST” 端插针与“S” 端插针用“短路块” 短接。由于每个运放单元均 设臵了锁零场效应管， 所以运放具有锁零功能。 将开关设在“方波”档，分别调节调幅和调频 电位器，使得“OUT”端输出的方波幅值为 1V，周期为 10s 左右。 3. 将 2 中的方波信号加至环节的输入端 Ui，用示波器的“CH1” 和“CH2” 表笔分别监测 模拟电路的输入 Ui 端和输出 U0 端，观测输出端的实际响应曲线 U0(t)， 记录实验波形及结果。 4. 改变几组参数，重新观测结果。 5. 用同样的方法分别搭接积分环节、比例积分环节、比例微分环节、 惯性环节和比例积分 微分环节的模拟电路图。 观测这些环节对阶跃信号的实际响应曲线， 分别记录实验波形及结果。 实验二 1.2 典型系统的时域响应和稳定性分析 实验目的实验设备 实验步骤实验现象分析 可知道该系统的自然频率和阻尼比均与R值大小有关，当R处于160左右处于临界阻尼状态，则R160时阻尼比增大，系统则应处于过阻尼状态，输出波形如上图所示。 同理当R的阻值减小时，系统应该趋于欠阻尼状态；如R=50时，系统处于欠阻尼状态，其输出波形如下图所示： 欠阻尼 欠阻尼状态，是我们所期望的一种状态，相比于过阻尼，系统响应时间比较短，相比于临界阻尼，系统的超调量比较小。工程上，也是希望系统能够快速平稳准确的追踪输入信号，因此欠阻尼相对比较理想。 三阶系统 三阶系统处于临界稳定时 三阶R30K R30K 实验三 2.1 线性系统的根轨迹分析 实验目的 实验设备 模拟电路构成： 如图 2.1-2 所示。 系统的开环增益为 K＝ 500KΩ/R，开环传递函数为： 绘制根轨迹 由开环传递函数分母多项式 S(S+1)(0.5S+1)中最高阶次 n＝ 3，故根轨迹分支数为 3。开环有三个极点： p1＝ 0， p2＝－ 1， p3＝－ 2。 实轴上的根轨迹： ① 起始于 0、 － 1、 － 2，其中－ 2 终止于无穷远处。 ②起始于 0 和－ 1 的两条根轨迹在实轴上相遇后分离，分离点为 显然 S2 不在根轨迹上，所以 S1 为系统的分离点，将 S1＝－ 0.422 代入特征方程S(S+1)(0.5S+1)＋ K 中，得 K＝ 0.193 根轨迹与虚轴的交点 将 S = j W 代入特征方程可得： 根据以上计算，将这些数值标注在 S 平面上，并连成光滑的粗实线，如下图所示。图上的粗实线就称为该系统的根轨迹。其箭头表示随着 K 值的增加，根轨迹的变化趋势，而标注的数值则代表与特征根位臵相应的开环增益 K 的数值。 根据根轨迹图分析系统的稳定性 根据图 2.1 -3 所示根轨迹图，当开环增益 K 由零变化到无穷大时，可以获得系统的下述性能： R＝ 500/K 当 K＝ 3； 即 R＝ 166 KΩ 时，闭环极点有一对在虚轴上的根，系统等幅振荡，临界稳定。 当 K 3； 即 R 166 KΩ 时，两条根轨迹进入 S 右半平面，系统不稳定。 当 0 K 3； 即 R 166 KΩ 时，两条根轨迹进入 S 左半平面，系统稳定。 上述分析表明，根轨迹与系统性能之间有密切的联系。利用根轨迹不仅能够分析闭环系统的动态性