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研究の背景と目的 * T型量子細線中の一次元電子正孔系の 時間分解発光測定 27aZC-1 日本物理学会第60回年次大会(2005.3.24-27、於：東京理科大野田キャンパス) 東大物性研、CREST(JST) 　吉田正裕、早水裕平、秋山英文 Lucent Technol., Bell Labs. 　Loren N. Pfeiffer, Ken W. West Outline １．背景と目的 ２．GaAs Ｔ型量子細線 ３．細線励起による時間分解測定 ４．スペクトログラフ法による細線の発光分光測定 ５．まとめ ☆半導体量子細線中の１次元電子正孔系 1. cw光励起での発光スペクトル励起強度依存性 2. パルス光励起による準平衡状態からの発光の 時間分解測定 　励起子-プラズマ転移、低次元系の多体効果 　量子細線レーザー発振起源 （細線励起による時間分解発光測定） スペクトルグラフ法による細線発光像測定（cw測定） 　　 --- 細線発光の励起波長依存性の解明 Ｔ型GaAs量子細線の 本発表では 細線発光スペクトルの励起強度依存性 (T=5 K)（これまでの報告） 一次元励起子 励起子分子 電子正孔プラズマ ? n1D = 1.2 x 105 cm-1 (rs = 6.6 aB) ? 励起子分子より連続的に変化 ? 励起子発光の消失 ? n1D = 3.6 x