集成门电路的测试工科.docVIP

实验3.2 集成门电路的测试 实验目的 1．掌握基本TTL门电路、CMOS门电路逻辑功能测试。 2．掌握基本门电路的控制作用。 3．学会用手册查找集成块管脚的方法。 4．掌握TTL、CMOS集成电路的使用特点。 实验原理 1．集成门电路类型 为了便于实现各种不同的逻辑函数，在集成门电路产品有“非”门、“与”门、“或”门、“与非”门、“或非”门、“与或非”门和“异或”门等。其逻辑符号、表达式、特点见常用集成门电路对照表3.2.1。 表3.2.1 常用集成门电路 名称 表达式 逻辑符号 特点 “与”门 Y=AB 有“0”出“0” 全“1”出1 “或”门 Y=A+B 有“1”出“1” 全“0”出0 “非” 门 有“0”出“1” 有“1”出“0” “与非”门 Y= 有“0”出“1” 全“1” 出0 “或非”门 Y＝ 有全“0”出“1” 有“1”出“0 “异或”门 Y＝A( B 相同出“0” 不同出“1” 2. 门的控制作用 门电路在使用中常将某一输入端作为控制端，使该门始终处于“开启”或“关门”状态。例如在表3.2.1“与非”门中，若在B端加上高电平而在A端加入方波信号，则门开启，方波信号就可顺利地传输到输出端（反相）。反之，若在B端加上低电平，则门关闭，A端的信号就不能传送至输出端，输