SOPC.第一二三章.ppt

3.8.2 存储器测试 指南——对于RAM，推荐使用某种方式的BIST（内建自测试），因为这样可以提供一种快速易控制的测试方法。然而，一些BIST方法并不足以测试存储器的数据保持力。 3.8.3 微处理器测试 指南——使用影子寄存器实现嵌入式处理器的全扫描测试。如下图所示，就是影子寄存器实现全扫描测试逻辑的电路图。 3.8.4 其他核 指南——对于其他种类的核测试，最好选择就是全扫描技术。全扫描可以用非常少的设计投入，获得非常高的测试覆盖率。芯片级测试控制器需要管理：多少个扫描链同时工作？如何把它们连接到芯片级的I/O管脚上？ 3.8.5 逻辑BIST 逻辑BIST是一种不同于全扫描的测试方法。全扫描必须把它的扫描链集成到芯片的整个扫描链当中，而逻辑BIST使用LFSR（线性反馈移位寄存器）来产生局部的测试向量。用信号识别电路检查扫描测试的结果，以验证电路工作的正确性。 逻辑BIST的优点是：所有测试向量的产生和检查都能在核的内部完成。他可以为核提供更高的安全性和可靠性。逻辑BIST减少了为测试而对存储器进行扫描的需求，允许以大多数测试器达不到的时钟频率进行测试。逻辑BIST需要 进行额外设计，并且测试向量产生器和检查器需要占用一些芯片面积。工具可以自动将这些工作完成。 3.9 可重用的必要条件 3.9.1 库 高质量标准单元库的要求： 1.库应该以全套方式提供，包括综合