时序逻辑电路测试及研究.docVIP

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时序逻辑电路测试及研究

实验报告 专业 物联网工程 年级 2012级 姓名 **** 学号 ********** 日期 2014.6.6 实验地点 ****实验室 指导教师 ****** 实验六 时序逻辑电路测试及研究 一、实验目的 1、掌握计数器电路分析及测试方法。 2、训练独立进行实验的技能。 二、实验仪器及器件 1、双踪示波器、实验箱 2、实验用元器件 74LS00 1片 74lS73 2片 74LS175 1片 74LS10 1片 三、实验内容 1、异步二进制计数器 (1) 按图5.1 接线。 (2) 由CP 端输入单脉冲,测试并记录Q1—Q4 状态及波形(可调连续脉冲)。 cp Q4 Q3 Q2 Q1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 2 0 0 1 0 3 0 0 1 1 4 0 1 0 0 5 0 1 0 1 6 0 1 1 0 7 0 1 1 1 8 1 0 0 0 9 1 0 0 1 10 1 0 1 0 11 1 0 1 1 12 1 1 0 0 13 1 1 0 1 14 1 1 1 0 15 1 1 1 1 表格: 图表 VI/V CP T/US VI/V QA T/US VI/V QB T/US VI/V QC T/US QD T/US 2、异步二—十进制加法计数器 (1) 按图5.2 接线。QA、QB、QC、QD 4 个输出端分别接发光二极管显示,CP 端接连续脉冲或单脉冲。 (2) 在CP 端接连续脉冲,观察CP、QA、QB、QC、QD 的波形。 (3) 画出CP、QA、QB、QC、QD 的波形。 表格 CP QA QB QC QD 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 2 0 1 0 0 3 1 1 0 0 4 0 0 1 0 5 1 0 1 0 6 0 1 1 0 7 1 1 1 0 8 0 0 0 1 9 1 0 0 1 图表 VI/V CP T/US VI/V QA T/US VI/V QB T/US VI/V QC T/US QD T/US 3、移位寄存器型计数器 (1) 按图5.3 接线构成环形计数器,将A、B、C、D 置为1000,用单脉冲计数,记录各触发器状态。 (2) 改为连续脉冲计数,并将其中一个状态为“0”的触发器置为“1”(模拟干扰信号作用的结果),观察计数器能否正常工作。分析原因。 触发器 脉冲前(预置) 脉冲后状态(次) 1 2 3 4 A 1 0 1 0 1 B 0 1 0 1 0 C 1 0 1 0 1 D 0 1 1 1 1 (1)

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