串联电容器及成套装置技术绪论.ppt

4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.1 内熔丝下限熔断试验应该用交流还是直流进行。 虽然直流试验时的元件储能是确定的，但不存在故障元件的熔丝流过工频续流的能量。 交流击穿时的储能是不确定的，即使击穿时的储能没有熔断，此后故障段工频续流全部通过故障元件熔丝是熔丝熔断关键。 也就是说：通过直流下限试验的熔丝，是可以通过交流下限试验的，反之则不然（充分不必要条件）。 既然直流不容易熔断， 熔丝下限试验通过与否，确定以直流试验为准。 4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.2 串联电容器介质结构是采用三膜还是采用两膜的好 常言道：金无足赤人无完人，电容器固体介质采用的是电工聚丙烯薄膜，同其它电介质一样，也不可避免存在着电弱点。这些电弱点包括：金属、非金属（如炭）粒子、灰分及针孔等。 国标（GB/T13542.3-2006）《电气绝缘用薄膜 第三部分：电容器用双轴定向聚丙烯薄膜》6.3条 关于电气弱点的规定：电气弱点应按IEC60674-2:1988中第19章的规定测试。施加的电气强度为200V/μm，被测试样的最小面积5m2 ，所测得的弱点数不超过表3所规定的值。 4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.2 串联电容器介质结构采用三膜还是采用两膜为好 4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.2 串联电容器介质结构采用三膜