ICP刻蚀工艺要点..doc

  1. 1、本文档共9页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
ICP刻蚀工艺要点.

ICP考试题库 选择题。 1、ICP刻蚀机的分子泵正常运行时的转速大约在(B )RPM A 20000 B 32000 C 40000 D 18000 2、北微ICP本底真空和漏率指标为(A )时,设备能够正常工作 A 0—0.1mT 1mT/min B 2.5mT 2mT/min C 0.3-- 0.5mT 1.0mT/min D 0.5mT 2.5mT/min 3、NMC 刻蚀机当前SRF时间为( C )时,要求对设备进行开腔清洁 A 50H B 100H C 200H D 2000H 4、SLR ICP托盘、螺丝等清洗标准作业流程(ABC) A:用DI水喷淋托盘(底盘和盖子)、耐高温橡皮条(7根)、螺丝 B:用N2吹干 C:螺丝使用一次后清洗;托盘和橡皮条使用三次后清洗;当天全部声波清洗 5、ELEDE ICP铝盘、石英盖、密封圈清洗标准作业流程( ABCD ) A. 用DI水浸泡石英托盘20min B. 用DI水冲洗一遍 C. 用N2吹干 D.用IPA擦拭密封圈 6、ELEDE ICP卸晶片标准操作流程( ABC ) A.用专用螺丝刀把托盘的螺丝拧松,用手拧开,放回固定位置 B.用手轻轻地取出石英盖 C.用专用镊子将晶片夹放到相应的盒子里 7、CORIAL ICP卸晶片工艺步骤( ABC ) A. 用小起子将铝盖轻轻翘开 B. 移开铝板 C. 用真空吸笔将蚀刻片吸到相应的盒子里 填空题。 1.蚀刻好的晶片测得的高度是1.75um底径是2.74um那么需要进行补刻大约300S 2.蚀刻时一般设置氦气的压力是4Torr当实际压力超过 5.2Torr 会报警氦漏 3.NMC机台正常工作时分子泵的转速是32000 RPM 4.在NMC工作中氮气的作用是 吹扫腔体 氦气的作用时 冷却晶片(托盘) 氧气的作用是 清洁腔室 三氯化硼的作用是 蚀刻晶片 5. 1 Torr = 133 P a 6.清洗晶片时丙酮的作用是清洗 有机物 异丙醇的作用是清洗 丙酮 7.曝光使光刻胶有选择性,正胶 光照 地方,负胶 未被光照 地方,光刻胶被显影液反应掉 8.ICP的清洁没有做好会造成晶片 死区盲区 等缺陷 9.造成马赛克的因素有 晶片的平整度 , 匀胶的均匀性 , 曝光台的清洁度 10.NMC机台连续工作 5 小时需要做Dryclean 11. 每周五检查冷冻机冷冻液剩余情况,低于第一个金属环时应添加异丙醇 12. 当机台闲置2小时以上再生产时,应对机台进行一次预热动作 13.作业过程中,杜绝晶片放错片盒,以工艺记录本的刻号为准 14. 实验时装片要仔细查看晶片,避免把好晶片当成废片作为陪片刻蚀 15. 实验片刻蚀完放回原来的盒子中,不可另外单独存放 16. 每蚀刻完一个RUN,抽取两片进行检测,检测数据如有异常,立即报告工艺人员 17. 拿晶片测量数据时,不可用手触摸晶片表面,避免晶片污染导致测量误差 18. 每班下班前保证有三盒有胶废片,用过的废片满一盒后要及时送往清洗站 19. 蚀刻前进行晶片的挑选,凡有马赛克、污染、针孔等缺陷超过0.2mm2 的不能蚀刻,收集到返工盒里,待满一盒,流到清洗站清洗 20.每次做完PM后连续做5个SEASON接着做4片实验,若实验片数据和外观OK就正常生产,负责在做3个SEASON和4片实验,直到能够生产为止 判断题: 1, ICP刻蚀的工艺气体是三氟甲烷__________________( × ) 2,Corial冷冻机里面装的是ACE ___________________( × ) 3,ICP石英托盘用ACE清洁_____________________( × ) 4, 真空吸笔头容易脱落,吸片前检查一遍吸笔头是否稳固________( √ ) 5,每次生产时用无尘布加IPA擦拭片盒和CM腔室___________( √ ) 6,操作员可更改ICP生产程序____________________( × ) 四,问答题: 1.在检测发现有很多的废片如满天星;边不对称;刮花等,试分析一下造成这些废片的原因。 答:造成满天星的因素可能是1晶片曝光过程中光刻板污染、显影过程中脱胶等,但是刻蚀前没有镜检,2装完片没有进行吹扫有颗粒落在晶片上,3机台长久没有做PM有颗粒掉在晶片上。 边不对称:1装片时没有调整好,2盖石英盖时造成晶片移位。 刮花:1装片调整时镊子刮到晶片,2目检时遗漏了刮花缺陷,3拧螺丝时手指衣袖等碰到晶片。 2.NMC机台

文档评论(0)

kaiss + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档