X线头影测量分析..docx

目录1?拼音2?X线头影测量的主要应用3?头颅定位X线照像和头影图的描绘3.1?头颅定位X线照像3.2?头影图的描绘4?常用X线头影测量的标志点及平面4.1?头影测量标志点4.2?头影测量平面5?常用硬组织测量项目5.1?上下颌骨的常用测量项目。5.2?上下前牙的常用测量项目5.3?面部高度的常用测量项目6?电子计算机化的X线头影测量6.1?电子计算机化的X线头影测量特点6.2?电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程6.3?数学模型的建立[返回]1?拼音X xiàn tóu yǐng cè liàng fèn xīX线头影测量（Cephalometrics），主要是测量X线头颅定位照像所得的影像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。几十年来X线头影测量一直成为口腔正畸及口腔外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。在我国，X线头影测量于60年代初开始在口腔正畸的科研及临床工作中应用。70年代末，电子计算机X线头影测量亦开始应用于我国口腔正畸临床及科研工作上。[返回]2?X线头影测量的主要应用1研究颅面生长发育：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。Brodie1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。林久祥、张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、性别间差异，以及颅面生长发育的预测。2牙颌、颅面畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙 合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中去。3确定错合畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常 合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案。4研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化：X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化，都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。5外科正畸的诊断和矫治设计：通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析，得出畸形的主要机制，以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量，同时应用X线头影图迹进行剪裁，模拟拼对手术后牙颌位置，得出术后牙颌、颅面关系的面型图，为外科正畸提供了充分的根据，从而提高了其诊断及矫治水平。6下颌功能分析：X线头影测量还可以用来研究下颌运动，语言发音时的腭功能以及息止合间隙等方面的功能分析。也有用于下颌由息止位至咬合时髁突、颌位等位置运动轨迹的功能研究。[返回]3?头颅定位X线照像和头影图的描绘3.1?头颅定位X线照像(1)头颅定位仪：用作头影测量的X线头颅像，必须要在头颅定位仪(cephalometer)的严格定位下拍摄。因为只有完全排除了因头位不正而造成的误差后，各测量结果才有分析比较的价值。头颅定位仪正是保证这一要求的仪器。自1931年Broadbent使用第一架头颅定位仪以来，出现了许多不同类型的头颅定位仪，其种类虽多，但定位的基本原理大致相同，只是近年来的产品，其结构更趋精密、准确。 头颅定位仪的定位，关键在于通过定位仪上的左右耳塞与眶点指针，三者构成一与地面平行的恒定平面的原理。在X线摄像时，先使头颅定位仪的两耳塞，进入头部左右外耳道，然后上下调整头部位置，使眶点指针抵于眶点，此时头部便固定在眼耳平面与地面平行的位置上。每次照像时，头位均恒定于此不变。头颅定位仪的顶盘一般具有刻度并能旋转，当需投照后前位或一定角度时，只需转动90°或一定角度