光缆线路工程中光纤测试疑点分析..docVIP

光缆线路工程中光纤测试疑点探讨 问题的提出 在工程和维护实际中，通常使用OTDR（Optical Time Domain Reflection）法对光缆线路衰耗及接头损耗等进行测试，而在测试过程中常出现以下现象： 1、同一个光缆接头中的个别光纤熔接点，用OTDR从两个方向测量，出现“正负台阶”，有个别熔接点正负偏值较大，不同批次光缆纤芯接续时尤为明显； 2、OTDR测试曲线放大后，有些光纤部分段落有波浪状，甚至出现“鼓包”现象。例如XX光缆线路工程中#1光纤距离A节点9.7Km处，出现插损达0.019dB的“鼓包”； 3、不同时间OTDR测试曲线的插损点数量有变化，长途光缆尤为明显。 原因分析 1、OTDR测试原理 光在光纤中传输时产生两种反射：一种是由于纤芯纵向上局部折射率跳跃变化产生的菲涅尔反射光；另一种是由于纤芯内部存在直径小于光波长的材料密度不均匀区，各区域之间微弱折射率偏差产生的瑞利散射光，其中一部分光反射到光纤入射端，称为瑞利背向散射光。OTDR法就是通过检测瑞利背向散射光，观测和分析从光纤中返回入射端的背向散射光的脉冲变化，来测量光纤的总衰耗、局部损耗及接续衰耗等；也可通过检测瑞利散射光和菲涅尔反射光，来检测光纤长度及断点。测量光纤衰耗采用的是后向散射法原理。 IEC TR62316 Guidance, 国标等明确规定光纤衰减的基准测试方法为剪断法(即光源/光功率计法)，而OTDR 法是经理论和实践证明了的替代测试方法,用OTDR 来进行光纤衰减及接头损耗的测试， 必须进行双向测试，然后取其代数平均值。 2、光纤接头处“正、负台阶”现象分析 一般情况，两根光纤的参数不可能完全相同，因而其背向散射系数也不可能相同，如果两根光纤的模场直径（MFD）、相对折射率差不同，则两端的背向散射系数会有较大差异。由于OTDR测量光纤衰耗采用的是后向散射法原理，从光纤的任何一端测出的值均包括：光纤的熔接损耗值和由两根光纤模场直径差异造成的附加值。 熔接衰耗值主要是由两根光纤的参数不同以及施工工艺造成的，该值正是我们需要得到的数值。 附加值是由两根光纤模场直径差异造成的。因为小模场直径光纤传导后向散射光的能力比大模场直径的能力强，所以当这两种直径的光纤熔接时，若从模场直径光纤向模场直径光纤方向测试，是负值；反之，则出现值。”。 （2）当从大模场直径光纤方向测试时，CRT屏幕显示的损耗值为S1+ （－S2），若S1+ （－S2）0，则接头处背向散射曲线为一个幅度较小的不连续的下降曲线，即“小下台阶”，如图一所示。 图一：S1+ （－S2）0时的“小下台阶” （3）从大模场直径光纤方向测试时，若S1+ （－S2）0，则接头处背向散射曲线为不连续的上升台阶，即“上台阶”，这就是由于OTDR法的测试机理所引起的所谓的“负损耗”或者说“伪增益”，如图二所示。 图二：S1+ （－S2）0时的“伪增益” 通过上述分析，可以认为用OTDR在单方向测试时出现的“负衰耗”现象是正常的，也是必然的。所以，根据光缆线路工程验收测试规范的要求，在工程上应当对OTDR的双方向实测值取代数平均值，目的就是将双方向的附加值中和，从而消除OTDR测试附加值的影响。即： 测出A-B方向衰耗值：S1+ S2，再测出B-A方向衰耗值：S1+ （－S2），两者代数和为2S1，除以2之后得出S1，S1就是我们需要的熔接损耗值。 3、OTDR测试曲线放大呈波浪状及“鼓包”的原因分析 3.1 对OTDR曲线呈波浪状的分析 由于OTDR是对注入的光脉冲背向反射回来的光功率进行离散的抽样检测，检测之后描绘出相应的曲线，该曲线是由许多微小的折线构成，不同仪表因其性能、精度及使用年限不同对测试曲线的表现是不同的。另外由于OTDR 接收元器件的老化, 而与反射回来的背向散射光的不断变化的偏振态相作用也会造成OTDR的波浪状曲线，但这是一种假象，可以用加扰等办法予以去除。 3.2对OTDR曲线呈“鼓包“的分析 随着技术的不断提高，OTDR测试仪表的精度也越来越高，OTDR测试曲线能反映出光纤上更多细微的变化。当光纤某处存在较大缺陷(如杂质、气泡等)时，“鼓包”现象在精密的仪表下就会显得比较明显。信息产业部的《非零色散位移单模光纤特性》(YD/T1001-1999)对衰减点不连续性作如下规定：“用OTDR对光纤从任一端进行检测时，在1550nm波长光纤连续长度的局部衰减不应有超过0.1dB的不连续点。”在工程中，一般取不大于0.05dB视为正常，不影响通信。 4、不同时间OTDR测试出的插损点数量不同的原因分析 现在的OTDR精度都比较高，能测出十分细微的变化。由于每次测试的环境不同(温度、湿度等)，光缆纤芯本身衰耗特性会略有变化；另外每次测试时，不同仪表的精度不同、初始状态不同、