半导体芯片测试系统操作说明书v1.0解析.doc

第一章 系统概述 1.1 系统概述 半导体芯片测试系统是使用我公司自主研发的ZWL－900测试主机、快速光谱分析仪、高精度直流电源、高稳定交流电源、数显功率计等高精度仪器，配合人性化的上位机软件，对HID、节能灯、LED模块等灯具测试光、色、电综合性能的产品。 系统实现了真正传统仪器技术和虚拟仪器技术的完美结合，既可直接通过仪表的大屏幕液晶进行一系列测试，又可工作在计算机模式下进行各种测试并进行数据图形分析、存储及报表打印。另外，由于系统中的快速光谱分析模块采用了光纤传输导光、CCD快速采集、高速数据转换系统、VC++计算机高效人机交换界面等一系列高新技术计量标准，保证了对在 5ms～800ms内光谱功率分布图、半宽度、主波长、色品坐标等所有光谱参数的测量。 系统的模块化和高集成度保证了系统的高可靠性，低温漂保证了系统的重复性。同时，系统具有强大的电源功能，最大输出恒流可达5A。 便利的实验特性 清晰的大屏幕液晶显示器 快捷式的中英文操作按键 采用先进的四线制测量，使得测量数据更加准确 使用先进的校准算法，能够提供测量性能强大的曲线分析功能 连续性和一致性的测试功能 使用高精度、高稳定性的电源 灵活的系统特性 RS232标准接口 配有功能强大的软件，系统升级灵活 性能扩展方便 开放式的测试性能、齐全的测试支架可满足不同用户的各种测试需求 1.2 技术环境 操作系统：Windows XP 处理器：为INTEL兼容处理器，主频1GHz以上。 系统内存：128M以上。 光谱分析，至少具备两个可用串口。 可适配打印机，进行报表打印。 半导体芯片测试系统主机及装置。 1.3产品特性 快速、稳定 系统使用独立高精度恒流电源模块，拥有先进的快速光谱分析模块。采用等一系列高新技术计量标准，通过信号快速采集、导光、高速分析、高效计算，保证ms级的测试速度和可见光波段的光谱参数测试结果的一致性。 适用性广 开放式的测试、齐全的测试夹具，利于各种规格灯具测试。 简便的使用操作 人机交互界面友善，操作简捷，实现全程软件控制。 直观、完善的测试分析系统 可系统性的完成光色电参数的高精度测试，并通过测试界面将测试结果以图形的方式直观的呈现出来。 所有测试条件符合CIE相关标准。 1.4 技术参数 功能 参数范围 精度 分辨率 电参数 正向电压测量 1.0000V～45.000V ≤5V：±0.2%键值 +0.01 V ＞5V：±0.2%键值 0.015V 驱动电流 0-5A ≤300 mA：±0.2%键值+0.001A ＞300 mA：±0.2%键值 1.5A，分辨率0.001A ≥1.5A，分辨率0.003A 光参数 光通量测量 0-4000.00lm 3%f.s. 0.001lm 色参数 波长范围 380-780nm （可扩展测紫外、近红外） ＜600nm 0.4nm ＞600nm 1.0nm 0.19nm 显色指数 0-100 1 1 色品坐标 X、Y和U、V 0.003 0.0001 色温 1300-25000k 0.05%f.s 1K 1.5工作环境 环境温度：23℃±5℃； 相对湿度：55％±25； 电源电压：220V±11V； 电源频率：50～60HZ； 空间环境：无强烈的机械振动、冲击、强电磁场。 第二章 系统介绍 2.1 软件启动 图2-1 系统快捷方式 双击打开“半导体芯片测试系统”，即可启动软件。无需输入权限验证，系统启动后主界面如下图2-2所示： 图2-2 系统主界面 软件开启前应该确保主机已经正确连接。点击重启系统初始化检测，检测过程会自动进行，如果发现问题，系统会提示出错，用户根据提示进行相应操作后，再点击重启系统初始化检测，再次检测系统。第3、4点需用户勾选确认对话框，来通过检测。检测通过后，系统会自动关闭系统初始化界面并进入操作界面。 2.2基本曲线测试简介 基本曲线部分可进行：电流-电压、电流-光强、电流-光通量 的测试，这些不同的测试内容具有一致的操作流程，人性化的操作界面。通过参数的设置可进行快速简单测试和高精度的实验室测试，满足各类用户的测试需求。 2.2.1操作流程 在进行所有方式的测试操作前，用户必须先进行硬件系统和串口的连接。测试流程如图2-3所示： 图2-3 系统流程 2.2.2 测试设置 在主界面中点选基本曲线，此时所有菜单、快捷按钮都对应到基本曲线的操作。然后在在菜单中点击 设置—测试设置，或直接点击快捷按钮的“测试设置”，即可打开基本曲线的测试设置界面。操作过程如下图2-4所示： 图2-4 基本曲线测试设置 完成所有参数设置后，点击“确认设置”，即完成测试设置，设置的参数值显示到基本曲线的显示界面上。（关于参数名的定义、参数允许的输入范