I大型仪器在宝石学中的应用.docVIP

【X射线】 1895年伦琴发现X射线，故X射线又称伦琴射线。 X射线：X射线是由于原子中的电子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的粒子流，是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁波,其波长约介于0.001-10nm之间。 X射线的散射分为 相干散射 和 非相干散射 两种。相干的光子进行相互干涉并产生一些 衍射 现象。 X射线管产生的X射线包含两部分：一部分是具有连续波长的 连续 X射线，另一部分是由阳极金属材料成分决定的有一定波长的 特征X射线。 连续X射线：具有连续波长的X射线。 特征X射线：具有特定波长的X射线。 X光在晶体中的衍射一定要满足 布拉格 方程（2dsinθ=nλ），此方程中符号的物理意义：① n为衍射级数 、② λ为X射线荧光的波长 、③ d为晶面间距 、④ θ为衍射角 。 X射线荧光(XRF)光谱产生的原因是 由于初始X射线光子的能量足够大，以致可以在样品中产生电子空穴，导致二次辐射（荧光）产生 ；两种光谱仪一种是 波长色散光谱仪(WDX) ；另一种是 能量色散光谱仪(EDX) 。它们与波谱仪(WDS)和能谱仪(EDS)的区别是 激发源使用X射线而不使用电子束。 X射线荧光(XRF)光谱仪在宝玉石学中的应用: ① 鉴定宝石种属(采用XRF测得马达加斯加粉红色绿柱石中含少量Cs、Rb等致色元素，故可确定其为铯绿柱石）； ② 区分天然与合成宝石（合成蓝色尖晶石中存在Co致色元素，而天然蓝色尖晶石中存在Fe杂质致色元素）； ③ 鉴别优化处理宝石（熔合再造处理翡翠中富含天然翡翠中不存在的Pb杂质元素） 。 【电子探针】 电子探针基本原理：电子探针(EPMA)又称X射线显微分析仪。它利用集束后的高能电子束轰击宝石样品表面，并在一个微米级的有限深度和侧向扩展的微区体积内激发，产生特征X射线、二次电子、背散射电子、阴极荧光等。 在扫描电镜中的高能电子束与样品互相作用后，从样品中激发出各种信息。对于宝石工作者最常用的是3中信息：二次电子 、背散射电子 、特征X射线 。 扫描电镜中做形貌观察主要是用 二次电子 ，扫描电镜若带有能谱（EDS）则可运用特征X射线做 成分分析 。 电子探针成分分析一般是借助于入射电子束作用于样品表面产生的 特征X射线 的 波长 和 强度 来实现的。 电子探针定性分析的原理是根据 莫塞莱 定律，写出此定律的表达式 λ=k(z-σ)-2，及其公式中符号的物理意义 λ为特征X射线波长 、Z为原子序数 ，K为常数 ，σ为屏蔽系数 。 电子探针(EPMA)做成分分析的3种基本方法是：点分析、线分析、面分析。其中线分析能得到 宝石学中化学元素在空间上的变化规律 信息，面分析能得到宝石中化学元素在空间上的配比与分布规律 信息。 波谱仪(WDS)和能谱仪(EDS)的仪器结构上的主要区别 波谱仪使用分光晶体；而能普仪直接使用探测器，多道脉冲分析器。波谱仪利用分光晶体对X射线的衍射作用来达到使不同波长分散的目的，通过测量对应元素的适当谱线的X射线强度就可以得到这种元素的定量结果。而能谱仪是利用特征X射线的能量不同而进行展谱分析。 波谱仪(WDS)、能谱仪(EDS)和X光荧光(XRF)光谱仪 不可以 查明钻石样品中的碳和氮含量而 能 查明合成钻石中镍的含量。 电子探针在宝玉石学中的应用： ①点分析 ②线分析 ③面分析 ④表面微形貌分析 【红外光谱】 宝石在红外光的照射下，引起晶体、络阴离子团和配位基的振动能级发生跃迁，并吸收相应的红外光而产生的光谱称为红外光谱。 红外光谱基本原理：能量在4000—400cm-1的红外光不足以使样品产生分子电子能级的跃迁，而只是振动能级与转动能级的跃迁。由于每个振动能级的变化都伴随许多转动能级的变化，因此红外光谱属一种带状光谱。分子在振动和转动过程中，当分子振动伴随偶极矩改变时，分子内电荷分布变化会产生交变电场，当其频率与入射辐射电磁波频率相等时才会产生红外吸收。 红外光谱产生的条件： 1.辐射应具有能满足物质产生振动跃迁所需的能量； 2.辐射与物质间有相互偶合作用。例对称分子没有偶极矩，辐射不能引起共振，无红外活性，如N2、O2、Cl2等。而非对称分子有偶极矩，具红外活性。 一般将简正振动形式分成两类：伸缩振动和弯曲振动（变形振动）。 红外光区划分为3个部分：近红外光区（波长范围0.78-2.5μm，波数范围 12820-4000cm-1）； 中红外光区（波长范围2.5-25μm，波数范围4000-400cm-1）； 远红外光区（波长范围25-1000μm，波数范围400-10cm-1）。但只有中红外区的1500—400cm-1区域是 指纹区，而4000--1500