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目的 尽量实现产品的零缺陷 验证设计可行性 常见硬件平台结构 硬件测试的内容 功能测试 信号完整性测试 电源测试 散热测试 可靠性测试 认证 1 功能测试 定义：功能测试是根据硬件详细设计规格书中提及的功能规格进行测试，验证设计是否满足要求。 严酷度：功能测试是系统功能实现的基本，是需要严格保证测试通过率的。 2.5代产品举例： 电源：内部LDO输出1.8V。 内核：工业标准增强型2T 8051。 时钟：PLL 12MHz最大12倍频。 接口功能：SPI，I2C，SPI，UVC，CSI，GPIO等。 （关于测试的方法和标准问题，我们可以参照相关文档） 2 信号完整性测试（SI） 定义：信号能够安全完整的到达目的地，它包含两个信息，一是独立的信号质量，另一个就是时序正确。 适用范围：主要是针对数字电路，频率越高，SI出现问题的可能性就越大。 信号质量的区别，抖动太大的话有可能造成”0” ”1”错误。 数据需要准时到达逻辑门，且在接收端期间开始锁存前必须确定数据的逻辑状态。数据的延迟或失真都会导致数据传输失败（无法识别数据或数据错误）。 1）信号的质量参数 振幅 振幅，高电平，低电平，均方根值，单个周期的均方根值，最大值，最小值，峰峰值，平均值，单个周期平均值，正过冲，负过冲，正欠冲，负欠冲等。 时间 上升时间，下降时间，正占空比，负占空比，高电平宽度，低电平宽度，周期，频率，延迟等。 眼图 眼高，眼宽，眼图最高点，眼图最低点，交叉点等。 振幅 振幅：高电平与低电平的差值，单位V或mV 。 高/低电平：高电平是指信号逻辑“1”/“0”所在位置的幅度，单位V或mV。 均方根值：整个捕捉波形上所有点幅度的均方根值，单位V或mV。 平均值：整个捕捉波形上所有点幅度的平均值，单位V或mV。 正/负过冲：指高电平/低电平处的过冲值，单位V或mV。 正/负欠冲：指高电平/低电平处的过冲值，单位V或mV。 欠冲波形 时间 上升/下降时间：逻辑“0”/“1”跳变到逻辑“1”/“0”的时间 。 延迟时间指两个相关信号间的相位差。 延迟时间波形 眼图 眼图的高/低电平值：眼图高/低电平累积部分最低/高点的值 。 眼图的最大/小值：眼图高/低电平处最高/低点的值 。 眼图的交叉点：差分信号的上升沿和下降沿交叉点 。 2）信号的时序 建立时间 保持时间 传输延迟 相位偏移 波形的质量影响到信号的建立时间和保持时间；传输的延迟和相位的偏移影响到信号是否按时到达逻辑器件。 建立时间：指数据在被采样时钟采样前已建立起的时间。 保持时间：指数据在被采样时钟采样后还要继续保持的时间。 传输延迟：数据从源端出来传输到接收端过程中所花的时间。 相位延迟：是指同步信号间的实际相位差。 小知识： 示波器带宽和采样率 带宽：信号幅度下降3db,在此频点为示波器的带宽频率。 采样率：示波器采样速度的参数，示波器1S内可以捕获样品 的数量。 列：Tektronix TDS1012 100MHz 1GS/s 100MHz为带宽，测试超过100MHz的信号会数据异常。 1GS/s为采样率，数值越大示波器显示的波形越接近实际 波形。 3）常见SI问题 反射 串扰 电源/地噪声 EMC/EMI 反射 信号源E产生带能量的信号，进过传输线传到负载，通过负载的阻抗吸收。即负载阻抗要求等于源阻抗，如果两者不匹配，源端信号最大能量部分被负载吸收，剩下的将反手回源阻抗，信号源就只好做出相应的变化去补偿输出。 反射的表现 信号源跳变时间Trise，传输延迟时间Tpd。 若TriseTpd, 负载端波形表现为过冲。 若TriseTpd,负载端波形表现为振铃（Ringing)现象。 振铃图 反射系数 传输线阻抗Zo,负载阻抗ZL。 反射系数Kr=(ZL- Zo)/ (ZL+ Zo) 举例： 信号源低电平驱动特性（0.2V,24mA)，即源输出阻抗 Zs=0.2V/24mA=8.3欧； 负载CMO器件，输入阻抗ZL=100K； 传输线阻抗Zo=50欧； 负载的反射系数Kr=(100K-50)/(100K+50)=1; 信号源输出端反射系数Krs=(8.3-50)/(8.3+50)=0.72 当信号源由3.5V变为0.2V时，即高电平转到低电平的过程： a)信号源输出端信号Vo=(0.2-3.5)*Zo/ (ZL+ Zo)=-2.84V