热释光测量系统的质量控制及剂量刻度方法研究.docVIP

热释光测量系统的质量控制及剂量刻度方法摘 要：热释光剂量计的测量读数是一个相对值，要把仪器测读数值换算成剂量值，需对剂量计进行刻度。本文主要介绍热释光测量系统的质量控制以及剂量计的刻度方法、量值传递等有关内容。 关键词：热释光剂量计； 刻度； 热释光测量系统； 退火炉。 1 引言 在等工作中，个人和环境X、γ累计辐射剂量的测量主要通过热释光剂量测量法来实现，剂量计的刻度是否准确可靠，将直接关系到广大的辐射防护安全。本文结合工作实践，立足于做好热释光剂量计的计量检定工作，主要介绍热释光测量系统的质量控制以及剂量计的刻度方法、量值传递等有关内容。 2 对热释光测量系统的要求 一套完整的热释光剂量测量系统包括基本设备和配套设备。基本设备有：热释光剂量计（探测器和剂量计徽章）、读出器（也称热释光剂量仪）。配套设备有：退火炉、计算机系统和用于对测量数据、资料做进一步分析、管理的专用软件。热释光剂量的测量精度与热释光测量系统的技术要求密切相关，测量系统应满足国家标准和计量检定规程规定的要求。因此，在进行热释光剂量测量时，必须对测量系统诸因素严格进行质量控制。 2.1 读出器的质量控制 在热释光剂量测量时，应保证测量系统的读出器稳定可靠，对读出器内的参考光源、高压电源、光学系统、光电倍增管、加热盘等性能要求，严格进行质量控制。 （1）读出器的参考光源。参考光源是用来检验读出器的工作状态，监督仪器稳定性的标准光源，目前读出器使用的参考光源大多是采用长寿命的14C放射性同位素加塑料闪烁体组成，这种光源具有发光均匀，性能长期稳定等优点。它放置于探测器相对应的位置，测量时，先检验参考光源的读数，在以后每次测量时，均应保持参考光源这一读数基本不变，以达到对读出器灵敏度的稳定性质量控制的目的。 （2） 读出器的光学系统。读出器的光学系统主要由滤光片、双凸透镜、反镜组成。在进行热释光测量时，由于灰尘和有机氧化物的影响，容易造成光路镜面的污染，并导致光透射系数的降低，使参考光源读数变小，通常采用增加光电倍增管高压的办法解决。这对那些热释光发射光谱与参考光源光谱相一致的探测器可认为时适宜的，但对那些发射光谱与参考光源光谱不一致的探测器将会导致较大误差。所以，要保证测量工作的正常运行，必须保持光路镜面的清洁，经常擦洗镜面的灰尘污染，测量时通入惰性气体，也是被认为有效的保证措施。 （3）高压电源的稳定性。在热释光测量时，读出器光电倍增管的光谱响应是随着高压的变化而变化的，因而热释光的测量高压必须稳定可靠，一般高压稳定度要优于0.05%。 （4）加热盘。在热释光测量系统中，加热的方式很多，如电加热、热气流加热等。目前较多采用的是电加热，采用加热盘直接加热测量热释光元件时，加热盘表面的光洁度对热释光信号有一定影响。因此，每次测量时，都必须保持加热盘表面光洁无污染，并保持测量元件位置的重复性和与加热盘的良好热接触。 2.2 热释光测量的质量控制 （1）测量程序的选择。通常，探测器（TL）的测量是按读出器的设定程序加热测量的，根据测量目的和读出器及探测器（TL）材料的不同，可以设定不同的程序。测量程序的正确设定，可以通过加热曲线和探测器（TL）的发光曲线进行确定。 （2）测量参数的选择。在进行热释光测量时，根据测量目的的不同，可以使用多种规格、类型的热释光探测器。由于各个厂家对探测器制造工艺的不同，掺杂成分的差异和读出器的差别，即使是同种类型同样规格的探测器，各厂家提供的测量参数也不完全一样，因此，各单位在测量时，应适当地调整自己读出器的测量参数。表1列出了系列热释光探测器的测量参数。 表1 系列热释光探测器测量参数 名称 LiF（Mg，Ti）GR-100 LiF（Mg，Ti）-M GR-100M LiF（Mg，Cu，P）GR-200 LiF（Mg，Ti）BIRM-100 LiF（Mg，Ti）-M BIRM-100 LiF（Mg，Cu，P） BIRM -200 CaSO4：Dy BIRM-10 T1/℃ 135 135 135 140 140 140 140 t1/s 15 15 15 20 20 20 20 T2/℃ 240 240 240 240 240 240 240 t2/s 20 20 20 20 20 20 25 V/℃s-1 20 20 20 20 20 20 20 （3）探测器退火。在热释光测量中，无论使用哪种探测器，使用前都应该进行高温退火处理。退火的目的是为了消除探测器的本底剂量和上一次测读后的残余剂量，以利于下次的重复使用测量。为了保持探测器的灵敏度稳定不变和重复测量使用，测量前应严格控制探测器的退火温度。表2列出了几种常用热释光探测器的退火条件。 表2 常用热释光探测器的退火条件 探测器 退火温度/℃ 恒温时间/min