《MIC的基本知识.docVIP

七：MIC的测试方法 测试电路图 测试仪表 HY系列驻极体传声器测试仪 1.电流的测试:由测试仪上直接读取电流值(μA) 2.灵敏度的测试:首先用标准话筒校准测试仪的声压级为94dB,然后把待测MIC放到已校准的声腔口上，用测试表笔测试MIC的两个极(注意两个表笔的方向)，注意MIC的工作电压和负载电阻，可以从测试仪上直接读取70HZ和1KHZ的灵敏度. 3.方向性测试:要在消声室内进行，BK2012测试仪，BK旋转台测试。 4.频响曲线的测试:要在消声室内进行，BK2012测试仪，BK旋转台测试。 5.S/N的测试，首先测试MIC的灵敏度，然后在相同的条件下在消声室内测试 MIC的噪声，注意最好使用干电池,以减少因使用其它电源引起的测试误差，然后计算:S/N=灵敏度电平/噪声电平，再用对数表示. 6.最大声压级的测试,在消声室内，用BK2012测试仪测试，逐渐加大声压级，并观察失真值,当失真值等于3%时，这时候的声压级就是最大声压级，记做MAXSPL。应大于115 dBSPLA 7.输出阻抗的测试方法 将声压加到传声器上，测量其开路输出电压，然后保持声压不变，在传声器的输出端并联一个电阻箱，调整其阻值，使输出电压为开路电压的一半，此时电阻箱的阻值即为传声器的输出阻值模值。 八、关于MIC在手机的应用 手机作为语言信息传递是手机功能的一部份,对于语言信息而言,MIC是一个重要的部件,是语言信息的输入端。 (一)、结构要求方面的 1.MIC与手机的安装结构相匹配，应根据手机对MIC的预留尺寸选择MIC，(或根据MIC的系列尺寸设计手机外壳及PCB)。 2.手机的外壳的开孔一般可以在?0.8-?1之间，开孔过大，不美观，开孔过小，会影响MIC的灵敏度。MIC在手机外壳应装到底，之间不应留有间距,因为留有间距相当于在MIC底部与外壳之间形成一个空腔，会对声音的某一些频率产生共振，从而改变了MIC的频响特性。 3.在手机或座机上使用MIC时,还要防止喇叭与MIC之间通过空间,内部或外壳产生回授自激啸叫,适当选择MIC的灵敏度和调节喇叭的音量可以消除空间回授.在喇叭和MIC与外壳接触面上加减振材料,可以消除通过机壳回授，手机内部割断音频的通道，防止声音从喇叭通过手机内部的音频通道回收到MIC。 关于手机在使用状态下啸叫的原因：总的来说是一种闭环的自激现象，也就是说在手机使用时，从喇叭发出的信号经过一定的衰减之后翻过来又送回到MIC，当回授的信号大于原先送入的信号时，这时音频回路的总的增益大于1时，就产生了啸叫,，形成啸叫的途径大约又三种 （1）喇叭发出的声音经过空间从机壳的外面回授到MIC （2）喇叭发出的声音经过机壳的内部的声音通道或空间回授到MIC （3）另一个途径是因为喇叭和MIC是装在同一个机壳上的，如果喇叭或MIC的减震效果不好的话，那么喇叭的振动，通过机壳传到MIC。 另外MIC的前端如果有空腔的话，会对某一高频产生共振，从而产生高频啸叫。 解决的途径： （1）减少喇叭与MIC之间的耦合，在允许的范围内，尽量的减少喇叭的输出，减小 MIC灵敏度，从而减少耦合 （2）在手机内部尽可能的切断声音的通路，尽可能的把喇叭与MIC进行隔离。 （3）喇叭与机壳的固定尽量加减振垫，以防引起机壳的振动 （4）MIC的前端尽可能的不要留有空间，以防高频自激 4.MIC与手机的连接。 手机与MIC的连接方式比较多，有直接焊接式:MIC与手机直接焊接式，如P型MIC的PIN 直接焊在PCB上.但要注意焊接时间和温度，容易通过焊接使MIC损坏或性能改变，不便于维修更换MIC。目前较少使用.压接式:MIC与手机的PCB通过导电橡胶或弹性金属簧片或弹性金属圆柱连接。例如S型MIC的连接各种胶套.使用组装方便，维修方便，但是价格较高(因为胶套较贵)，有时会出现个别接触不良现象，使用较多。 导线连接式: 用导线或FPC连接MIC和PCB，例如L型MIC通过导线或FPC连接到手机的PCB上，使用方便焊接对MIC无影响,价格合适接触良好，目前使用较多。 (二)、电气方面的要求 5.MIC在手机上的使用条件应与MIC的灵敏度测试条件相一致,其中包括工作电压，负载电阻.另外在以下情况下还要对MIC的工作电流进行限定，例如有的手机给MIC的供电电压比较低，(1V)，而负载电阻又 比较大(2.2K)，这是因为 6.话音频率:通常话音的频率是在300HZ-3KHZ之间,通常手机