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* 3 部分程序功能说明 （1） 交流电压电流测量处理 交流电压电流测量流程如图7-18所示，其测量原理前面已经作了介绍，频率和相位是由正弦波过零比较产生中断触发，再配合内部定时器1计算而得到；幅度测量由定时器0中断服务子程序定时进行过采样和数字滤波处理，从而得到高精度的幅度测量结果。 * （2）中断处理子程序 ①定时器0中断服务子程序 定时器0中断处理程序主要完成对A/D进行采样控制，在每一次中断中，对一相交流电压和电流进行采样一次，然后，切换采样选择输入通道，并启动A/D开始转换。当采集完一个周期时，则设置标志，该标志将被主程序判别并对所采样的3组交流信号进行处理，得到相应的电压电流幅值。 ②定时器1中断服务子程序 定时器1中断处理程序主要用于时间计时。 ③ 外部中断INT0服务子程序 该程序主要功能有两个，一个事用于频率的测量，再一个就是用于相位的测量。由于采用的是过“0”触发的方式，因此，在中断处理中，其基本方法就是当第一个过“0”引起中断后，中断服务子程序，启动定时器1开始计时。如果是测量频率，那么当下一个过“0”触发再次引起中断后，系统停止定时器1的计时，并读出定时器1中的计数器值，然后计算出频率值。 当系统测量相位时，根据测试的是电压间的相位或者是电流间的相位需要配合INT1或者INT2一起完成。如果是电压之间相位测量，则当电压过“0”引起INT0中断后，那么启动定时器1，设置好INT1并将其中断允许打开，在INT1中断处理程序中，关闭定时器1，并读出定时器的周期数，计算出相位值。电流间的相位值则启动INT2来处理。 * （3） 采样值处理子程序 由于ADS8381输出的实际采样信号是通过绝对值电路的采样，其数据均为正值，所以在滤波前先对其进行翻转，把负半波还原，然后再滤波处理。程序流程如图7-19所示。 通过具体数据来看，在抽样率为500HZ的条件下，设计系统的整形带通滤波器的阶数为147阶，CIC滤波器长度为21，半带滤波器的阶数分别为23，19，15，21阶。这样整个窄带滤波器的总阶数为147+2* (23+19+15+21+21)=345，考虑到滤波器的对称性和半带滤波器有近一半系数为零，可算得其占用的存储器的总数为74+2 * (7+5+4+6) +11=129个单元，若直接在20K的条件设计该窄带带通滤波器，其阶数为6152，所占用的存储器的个数为3076。从效果看，还是比较满意的。 * 7.1.4 系统调试 1 插卡硬件调试 在插卡电源检查无误后，即可通电对插卡调试。插卡调试主要分成二部分，即DSP部分和PCI总线部分。 （1） DSP部分 直接用JTAG仿真接口进行测试，测试主要包括以下环节： ①CCS硬件仿真环境的正常进入。 ②在CCS“View”菜单→Memory→输入地址（800000H以后），对VC33内部存储器进行读写测试。 ③在CCS“View”菜单→Memory→输入地址（如下），对插卡上扩展存储器进行读写测试。 双口SRAM：地址600000H-601FFFH，位长为字节。 管道SRAM：地址500000H-50FFFFH，位长四字节。 Flash：地址400000H-43FFFFH，位长双字节。 ④对A/D进行控制测试：用信号发生器接入正弦信号，编程测试。 * （2）微机PCI总线部分 有两种方法：DOS下测试和WINDOWS下测试。? 1）DOS下测试方法： ①??在纯DOS下运行沁恒公司网上下载的CH365MEM.EXE: A:\CH365MEM D000；写配置空间扩展存储器基址为D000H ②?? 进入DEBUG后: 用 _D D000:0 可以看双口SRAM中的内容. 用 _E 命令可以修改双口SRAM中D000:0-D000:1FFF中的内容. 2）WINDOWS下测试方法:? ①???在WINDOWS下安装以CH365芯片为接口的驱动程序:由沁恒电子WCH提供的二个文件CH365DLL.DLL和 CH365WDM.SYS ②??安装好驱动程序后，即可经[我的电脑]右键菜单-[属性]-[硬件]-[设备管理]-[外部接口]-[PCI扩展板CH365]右键属性，在该属性对话框下选择： [常规卡]：可以查看扩展卡的型号、位置（即：总线号/设备号/功能号） [驱动程序卡]：可以对驱动程序“卸载”、“更新”、以及查看“程序的详细情况”。 [资源卡]：可以扩展卡的“I/O范围”和“存储范围”。 ③ 对插卡编程进行测试。 * ? 以下对卡上存储器和I/O端口编程举例。? A．基于CH361/CH365 的通用驱动程序WDM 和动态链接库DLL，存储器访问期间 C语言程序示例： UCHAR mByte; // 数据单元，用于存、取存储器的数据 mPCH365_MEM