正交偏光镜下透明矿物的晶体光学特征.pptVIP

●补色法则和补色器 补色法则：两非均质体斜交OA的切面，在正交偏光镜下45度位重叠：若其光率体椭圆同名半径平行，总光程差等于两矿片光程差之和，表现为干涉色升高；若异名半径平行，总光程差等于两矿片光程差之差，表现为光程差较大的切片的干涉色降低。 消色：R＝0，矿片黑暗。 云母试板：147nm 石膏试板：550nm 石英楔：0～1680nm 补色器 ●补色器：在光通路中，用以加大或减少光程差，从而改变干涉色的器件称补色器。常用的补色器有云母试板、石膏试板、石英楔等 λ/4 1λ γ γ 云母试板 石膏试板 石英楔 云母试板：可增加或降低一个色序，本身可产生Ⅰ级灰干涉色（R = 147nm） 石膏试板：可增加或降低一个级序，本身可产生Ⅰ级紫红干涉色（R = 550nm） 石 英 楔：可增加或降低1—4个级序，本身可产生Ⅰ～Ⅳ级所有干涉色（R = 0—2200nm） 补色法则 ●补色法则：两个晶体切面各自可产生的光程差分别为 R1 和 R2 当它们同时处在光路中时，则它们产生的总光程差 R 为： R = R1 + R2 （两晶体光率体切面同名轴平行时） R =∣R1 – R2∣ （两晶体光率体切面异名轴平行时） λ/4 λ∣4 1λ 1λ Ⅱ级绿→Ⅱ级黄 升高一个色序 Ⅱ级绿→Ⅱ级蓝 降低一个色序 Ⅱ级蓝→Ⅲ级蓝 升高一个级序 Ⅱ级蓝→Ⅰ级灰 降低一个级序 ●非均质体斜交OA切面光率体椭圆半径和名称测定 步骤： （1）选矿片，消光 （2）45°位 （3）插入试板：确定干涉色升高或者降低。根据补色 法则判断矿片光率体椭圆半径的方位 注意：关键是干涉色升高或者降低判断要准确 （1）试板选用 （2）轮换用试板 （3）顺、反时针转物台 注 意 当异名半径平行时，干涉色级序降低，指比原来高的干涉色降低，比原来低的干涉色不一定降低 当异名半径平行时, 如果R1=R2，总光程差等于零，那么矿片就会变成黑色，此现象称为消色 ●矿物多色性公式和吸收性公式的测定 一轴晶矿物：平行OA切面 二轴晶：垂直OA切面，平行OAP切面 ●矿物最高干涉色和最大双折射率的测定 R＝△N×d （1）楔形边法 （2）石膏试板和云母试板法 （3）石英楔法 正交偏光镜下晶体光学性质 正交偏光镜下矿物主要光学性质： 最高干涉色、消光类型和消光角、延性、双晶、环带和波状消光 消光类型 矿物处在消光位时，矿物的轮廓、解理缝、双晶缝等与目镜十字丝（即上下偏光振动方向）间的关系称消光类型 平行消光 斜消光 对称消光 一轴晶 斜方晶系 单斜晶系部分切面 一轴晶 斜方晶系 单斜晶系部分切面 三斜晶系 斜方晶系少数切面 单斜晶系部分切面 注 意 矿物的光性方位（晶系）和切片方向决定消光类型 中级晶族： 光性方位：？ 消光类型：大多数切面平行消光 斜方晶系： 光性方位：？ 消光类型：大多数切面平行消光，只有同时斜切三个主轴的切面可能出现斜消光 单斜晶系： 光性方位：？ 消光类型：不同切面有不同的消光类型 X Ng’ Y Z Z X Ng Np ∥（010） Nm Np’ Y X ∥（001） ∥（100） 以角闪石为例 Y=Nm Z Ng Np Nm 消光类型 同一矿物不同切面可有不同消光类型 Ng Np x y Ng Np x (010)面 斜消光 x y Np′ Nm (001)面 对称消光 Ng′ Nm z y (100)面 平行消光 Nm z z 光性方位 消光角 矿物消光时，其延长方向、解理缝、双晶缝等与目镜十字丝（即上下偏光 振动方向，也是矿片光率体椭圆切面长短轴方向）间的夹角称消光角 通常只对斜消光的切面而言 α β 取α或β视具体情况而定 α a b 消光角α= a – b ●同矿物不同切面的消光角大小不等，只有特定切面上的消光角才有鉴定意义 如角闪石和辉石的消光角只能在光轴面上测定，斜长石可在⊥(010)晶带中测定等 消光角测定 ▲角闪石消光角的测定步骤： 1、选择合适切面（光轴面）— 见一组解理、多色性最强、斜消光、 干涉色最高、具瞬变干涉图 2、具体测量 3、确定光率体椭圆切面轴名 Ng a b 使解理平行纵丝 记下刻度a 旋至消光位 记下刻度b 将椭圆纵轴 旋到45°位 插入试板 确定椭圆轴名称 z z 使解理平行纵丝 记下刻度 a 旋至消光位 记下刻度 b 将椭圆纵轴 旋到45°位 插入试板 确定椭圆轴名称 λ/4 4、正确记录：消光角 z ∧Ng = a – b 延性 延性是指晶体切面轮廓的延长方向与光率体椭圆切面长短轴间的相对指向关系 有三种不同的延性 正延性 延长方向与椭圆长轴一致或夹角 45° 负延性 延长方向与椭圆短轴一致或夹角 45° 不分正负 延长方向与椭圆轴夹角=4