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MA-4XRF摘要

第六章 X射线基础知识 原子/分子外层电子 分子振动 γ射线 X射线 紫外 可见 红外 微波 无线电波 一、概述 1、X射线的发展:三个阶段 1895年 伦琴发现X射线 1912年 劳厄等证实了X射线在晶体中的衍射现象—晶体衍射 1913年 布拉格建立了布拉格定律——晶体衍射公式 d 为晶面间距 ; θ 为衍射角 n 为衍射级次 λ 固定, θ → d 测晶体结构(X射线衍射仪) d 固定, θ→λ 分光 1913年 莫塞莱发现了X射线波长与原子序数间的关系 λ~Z(原子序数)——元素分析基础 →X射线光谱分析及X射线荧光分析法 1948年 第一台X射线荧光光谱仪——元素分析仪 2、X射线光谱分析的特点 X射线荧光光谱法、电子探针微分析 (1)优点: 1)快速、多元素分析(与原子发射类似) 2)与化学态无关(内层电子跃迁) 3)非破坏性分析 4)全元素分析C-U 检测限1‰ (不能做微量) 5)精密度高 6)易解析 (荧光谱线较发射光谱简单) 7)表层分析 (分析厚度0.1-1μm)(表面分析 nm级) (2)缺点: 1)定量困难(固体样品) 2)检测限高(1‰),不能做微量分析 3)轻元素(MB)不能检测,灵敏度低 第七章 X射线荧光光谱法 (X-ra

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