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SPC管制法[精选]
SPC:統計制程管制(利用統計方法來 改善制程、控制以確保品質) ※ SPC其實是五六十年代SQC(統計品管)衍變。 SPC與SQC的不同點: Q 至 P 的轉變 .SQC強調品質 .SPC放在品質的源頭制程(PROCESS) SPC目的: 洞識力 ※ 籍由Shewhart管制圖原理從管制圖中獲得有關品 質、制程作業狀況等情報再利用統計手法和固有技 術加以分析找出異常原因並采取改善措施。 ※ 協助我們對數據及制程的了解,采用科學方法來消 除特殊要因及提升共同原因的系統績效的快速、團 隊學習方法。 ※ 利用管制圖這一有效過濾器,濾走可能噪音,使我 們找出可能的信號,減少把共同變成特殊原因及把 特殊原因變成共同原因之風險。 ※ 將制程參數(process parameter—P)調適妥當 並控制達到“品質是制造出來的”。 SPC發展史: ※ SPC始祖:美國W.A.Shewhart博士 1924年Shewhart發明了管制圖。 1931年Shewhart發明了工業制品品質之經濟管制 ※ 以美國為例 第一波:20世紀二十年代。(Western電器公司,影響 力有限)。 第二波:二次世界大戰。(軍事單位用它,后由ASQC 來推廣,成效有限。 第三波:二十世紀八十年代。(由於日本品管革命的 刺激,使美國痛下決心,重撿寶物。 中國臺灣、中國大陸是在第三波影響力中。 機遇原因 非機遇原因 共同原因 特殊原因 1.機遇原因:在管制界限內的變異原因。 2.非機遇原因:超出管制界限外變異的原因。 ※ 美國統計學家W.A.Shewhart博士在1924年 發明管制圖命名。 3.共同原因:管制界限內變異的原因。 4.特殊原因:超出管制界限外的變異原因。 ※ 美國品管大師W.Edwards.Deming博士在 1970年左右提出。 共同原因 = 機遇原因? 特殊原因= 非機遇原因? 機遇原因與非機遇原因 ※ 著眼於制程中的變異 ※ 機遇原因:在管制狀態下的變異,可以認為是穩定而常 態存在的亦稱為無法避免之原因。這种變異是制程中固 有的,減少/減小制程亦必要變動 ※ 非機遇原因:制程中不能管制的變異,隨時在變動,不 穩定亦不經常存在且不是制程中一部份。它不穩定的性 質使制程不能照既照預定目標操作,產生過多變異。應 該把它找出來加以消除,使制程恢復正常亦稱為可避免 之原因。 ※ 都可用來改進制程且有不同: 機遇原因是修改一個穩定的制程。 非機遇原因是創造一個穩定的制程。 共同原因與特殊原因 ※ 著眼點在於誰對變異負責。 ※ 共同原因是變異是存在制造系統或良好管制系統中. 這种變異是屬於系統內的,應由管制這系統的人負責 即是:經理人員、也只有經理層人員采取行動才能消 除。 ※ 特殊原因的變異在本質上是局部的可用”特殊 ”詞 來特定:一群作業人員或某一作業人員,特定的機器 等。一般能從發生問題的那一特定階層人員就可能找 出 原因,采取行動並消除。 一、制程能力是什麼 ? 二、制程能力在什麼時候分析 ? 三、執行制程能力分析前有那些 步驟? 四、制程能力分析的評價? 五、制程能力分析的作用? 6σ改善專案系統圖 七、究竟要量測多少個樣品才能計算CPK? 八、CPK是否能監測連續生產之制程? 要多少個樣本數能顯示出制程的穩定性?理論要求最好有25個以上的樣組,才具代表性。請大家注意!這褱所提到的25個以上的樣組數是針對管制圖而言,並不是指CPK。 所以只要能了解制程的穩定性,即使n=2~5也能計算CPK,但是唯一前提是必須先用計量值管制圖,來持續觀察制程穩定(必要時采取矯正行動)。 以上所探討的角度,是從產品制程上出 發,若是談論到單一的模具、機器、設備…等 等,建議是連續取樣100pcs來計算。 如果所有生產條件相同,為何第一次與第 二次的Cpk會有差異? 這是我們接下來要討論 的重點… S P C 的 步 驟 步驟一、確定制造流程 確定流程圖、訂定PMP、列出管制之生產條件、品質特性等 步驟二、制造流程解析 利用5W1E手法 步驟三、掌握因果模式決定管制項目 因果模式:那些制程參數(Process pa
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