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Mentor mbist学习总结Author:lu.hongboDate:2012-7-18目录1Mbist添加的必要32memory的类型33Mbist的结构44什么时候使用MBIST45优缺点46出错类型47MBIST的算法58用Mbistarchitect产生MBIST的输入和输出59工具使用610ATPG语法浅析711示例9附录A Rom的lib形式10附录B Rom content file格式11附录C Sram的lib形式12附录D 产生Rom bist的脚本实现13附录E 产生Sram bist的脚本实现13附录F makefile管理上述脚本实现13Mbist添加的必要当前设计中，加入内嵌的memory是很普遍的事情。因为内嵌的memory可以解决芯片的端口数量问题，也可以在整体方案重降低BOM成本，但这只是它带来的好处；坏处也随之而来，首先内部潜入了memory会增大芯片的面积，其次加入内嵌memory也带来了失效率增加的风险。下面用一附图来说明memory在芯片中的比重。如果说一个芯片中逻辑部分占用了整个芯片60%的面积（包括数字和模拟部分），那么剩下的面积就完全被memory占有了。所以memory给芯片的失效带来的风险也是不可忽视的一部分，有可能工艺环境带入的灰尘，亦或生产阶段的种种原因，导致缺陷落在这40%的面积上的可能性是不可忽视的。memory的类型既然memory的测试这么重要，我们就应该掌握所有memory的特性。首先了解memory的类型。memory的划分如下：memory深度不同和memory的位宽不同同步的memory或者是异步的memory单端口的memory或者是多端口的memorySRAMDRAMEEPROM和EPROMROM每一种memory都有自己的特点，针对不同的memory施加对应的测试激励才能够有效地达到测试的目的，这里我们也是实现了具体问题具体分析的哲学理念。但是针对memory的BIST测试，通常SRAM和ROM的时序比较固定，访问方式单一，所以通过固定的MBIST测试比较现实。Mbist的结构通常MBIST都是在memory的周围添加一个逻辑电路，这个BIST逻辑电路和系统的控制部分通过MUX电路进行选择。通过有限状态机和测试控制端口来实现对memory的测试。什么时候使用MBIST既然知道了memory测试的必要性和MBIST的测试结构，那么什么时候是用MBIST呢：对于中大型嵌入式memory的系统对于IP类型的memory对于需要实现快速测试的memory对于片内有多个嵌入memory的芯片MBIST能够对memory实现快速测试的功能。比如：你的memory目标应用是100MHz，那你就需要保证这个memory在100MHz下没有问题，因为如果出现问题，那你的目标应用就会有麻烦，所以快速测试也叫实速测试。就是按照实际的应用速度进行memory测试。优缺点好处不言而喻，保证你的芯片是OK的。坏处需要你详加斟酌：增加了少量面积增加了数据路径上的mux延迟出错类型短路错误：不管是对0短路还是对1短路都可以说是短路错误。转换错误：不能够实现从1转到0或者不能够实现从0转换到1。耦合错误：一个影响另一个的错误。邻居错误：一个单元影响和它相邻的所有单元/所有和它相邻的单元都会影响它。邻居错误最直观的图形形式如下：如何应对上述错误类型才是MBIST的最终目的：短路错误：通过向逐个单元写0，然后再逐个读出进行判断；通过逐个单元写1，然后再逐个读出判断。转换错误：通过将一个单元实现1-0的转换，然后再立即读出，注意一定要立即读出，因为有的时候可能转换实现很长以后这个cell就能够转换过来了，所以说转换错误也是由于单元的转换时间来决定的；通过将一个单元实现0-1的转换，然后再立即读出。耦合错误：必要写/读扫描所有的单元，保证不会出现耦合错误。邻居错误：测试比较复杂，需要你的pattern足够强大，不过如果觉得太复杂也可以忽略这一项。MBIST的算法MBIST的算法有如下几种：MarchA和MarchB：覆盖了一些链接错误MarchC，MarchC-，MarchC+，March3和Column March地址唯一棋盘法算法总结：对于1Mbit的RAM进行测试。MarchC+算法实现，共14步，可以通过提高测试时钟实现实速测试：write 0s (to initial)read 0s , write 1s, read1sread 1s , write 0s, read0sread 0s , write 1s, read1sread 1s , write 0s, read0sread 0s用Mbistarchitect产生MBIST的输入和输出出入文件需要一个描述了memory协