SPC作業指导书.docVIP

1.0 目的： 了解过程变差，以帮助达到统计控制状态。 2.0 定义： 2.1 SPC------英文Statistical Process Control的字首简称，即统计过程控制。SPC就是应用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而达到改进与保证质量的目的。SPC强调全过程的预防。 2.2 控制图------对过程质量加以测定、记录从而进行控制管理的一种用科学方法设计的图。图上有中心线(CL)、控制界限(UCL)和下控制界限(LCL)，并有按时间顺序抽取的样本统计量数值的描点序列。一R 控制图)、CPK的运用。 4.0 职责： 4.1 质量部现场QC负责收集数据绘制图表; 4.2 质量工程师负责输入SPC软件，并分析过程控制能力。 5.0 作业内容： 5.1?一R控制图 对于计量值数据而言，这是最常用最基本的控制图。控制图主要用于观察分布的均值的变化，R控制图用于观察分布的分散情况或变异度的变化，而一R图则将二者联合运用，用于观察分布的变化。它用于控制对象为关键尺寸（产品光口部位宽度、装钣金卡位、及客户重点关注位置尺寸），本公司用于控制压铸产品的持续稳定性。 5.2一R控制图的制作： 步骤1： 记录原始数据； ● 数据（毛胚）由压铸车间现场QC记录25组数据，每组5个数据，以作一张完整的一R控制图。 测量要求及方法：同种机型号、同机台的压铸的产品进行测量， 记录2组数据，频率为每班记录10个数据。 测量工具：经过校准合格的卡尺。 ● 电镀成品检验—由出货现场OQC记录25组数据，每组5个数据，以作一张完整的一R控制图。 测量要求及方法：根据型号选择需要测量的尺寸（按照标准型号:XFP 宽度测量：18.35±0.1mm SFP 光口位置宽度：13.70±0.1mm SFF光口位置宽度13.4±0.1mm）频率每批出货取5组数，记录25个数据。）（注明：客户特殊要求的及工程部标注重点要求的按要求取数） 测量工具：用精度是企标厚度公差精度10倍的千分尺、游标卡尺。如13.4±0.1mm，企标公差精度为0.1mm，则应用0.01mm精度的卡尺测量。 ● 例行测量分析—由测量工程师记录25组数据，每组5个数据，以作一张完整的一R控制图。 检测要求及方法：同种型号、同模具同一批次出来的产品，一次取数125个，依据要求选取尺寸。 测量工具：用精度是企标厚度公差精度10倍的千分尺、游标卡尺。如13.4±0.1mm，企标公差精度为0.1mm，则应用0.01mm精度的卡尺测量。企标公差精度为0.02mm，则应用0.002mm精度的2次元测量。 步骤2： 计算样本均值； =(X1+ X2+。。。+ Xn)/n 式中：X1，X2。。。为子组内的每个测量值。n为子组的样本容量。 步骤3： 计算样本极差R； R= X最大值- X最小值 步骤4： 计算样本总均值与平均样本极差 ； = = 步骤5： 计算R图与图的控制界限。 计算一R图应该从R图开始,因为图的控制界限中包含,所以若过程的变异度失控,则计算出来的这些控制界限就没有多大意义。 R图的控制界限计算公式如下： UCLR= LCLR= 图的控制界限计算公式如下： UCL=+ LCL=- 式中,系数A2、D3、D4见计量值控制图系数表如下： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3．27 2．57 2．28 2．11 2．00 1．92 1．86 1．82 1．78 D3 * * * * * 0．08 0．14 0．18 0．22 A2 1．88 1．02 0．73 0．58 0．48 0．42 0．37 0．34 0．31 ●* 对于样本容量小于7情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有极差的下控制限，这意味着对于一个样本数为6的子组，6个“同样的”测量结果是可能成立的。 步骤6： 标注控制图的刻度； 步骤7： 将均值和极差画到控制图上。 ●平均极差（）及过程均值（）——水平实线。 ●控制限(UCLR ，LCLR, UCL ，LCL）——水平虚线。 在初始研究阶段，这些被认为是试验控制限。 5.3 一R 控制图的分析： 5.3.1 超出控制限的点一出现一个或多个点超出任何一个控制限是该点处于失控状态的主要证据。因为在只存在普通原因引变差的情况下超出控制限的点会很少，我们便假设超出的是由于特殊原因造成