麦克森(Michelson)干涉仪.docVIP

實驗八 麥克森 (Michelson) 干涉儀 實驗題目 試進行調整得到直線條紋 試進行調整得到圓形條紋 試進行調整得到雙曲線條紋 試進行光源同調長度之量測。 試進行溫度場之量測。 試進行工作系統穩定性之量測。 一.前言 所謂干涉，乃指兩個有週期性或規則性的波相遇而形成的現象。如果我們想利用這個干涉現象，就必須希望這個干涉現象能夠讓觀測者清楚分辨並且能夠持續一段時間。我們可以疊紋(Moire)來瞭解麥克森干涉儀兩個的光場疊加在一起產生干涉條紋的原因，就二組直線狀的光柵 (grating)之 Moire 條紋而言，兩光柵間有少量角度差或有少量頻率差（兩個並不完全相同但非常近似的訊息），都可以產生 Moire，用這原理可以量測兩光柵間之微細位移現象。通常在主尺表面刻劃上一組光柵而在此尺之前擺上一參考光柵作為副尺，當副尺產生位移而與主尺光柵會產生 Moire 干涉條紋移動之現象，而將小的位移量放大成大信號。麥克森干涉儀之干涉條紋千變萬化，視其所分出之兩個的光場而有所不同，有直線形狀、圓圈形狀、雙曲線形狀、橢圓形狀．．．等，因此我們模擬麥克森干涉儀之兩個的光場疊加時必須使用各種形狀的光柵來合成疊紋。廣義的來說，疊紋也稱得上是一種干涉，但在此我們的討論範圍侷限於光的干涉方式。 我們可以把干涉儀的兩道光場予以剖析，前面一道光場，與後面第二道光場只有極微細的差異，當兩個以