现代材料分析方法考纲及答案.docVIP

绪论 仪器的分析方法，英文简称和中文对照。 X射线衍射仪（XRD） 扩展X射线吸收的精细结构测定仪（EXAFS） 高分辨率透射电镜（HRTEM） 扫描探针显微镜（SPM） 扫描隧道显微镜（STM），透射电子显微镜TEM 原子力显微镜（AFM），电子显微镜EM，扫描电子显微镜SEM 场离子显微镜（FIM），X射线光电子光谱XPS 穆斯保尔谱仪（MS），俄歇电子光谱AES 拉曼散射仪（RS）红外光谱吸收IR 正电子湮灭仪（PA，核磁共振NMR 能谱仪EDS，波谱仪WDS 常用分析方法：X射线衍射，光谱分析，核磁共振，热分析技术，表层分析技术，电子显微镜。 第二章 X射线衍射分析 1. X光机和X射线源的组成。（P5） X光机：X射线发生设备。包括高压发生器，整流，稳压电路，控制系统和保护系统，X光管。 X射线源：主要由X射线管，高压发生器和控制电路所组成。 连续X射线与特征X射线的定义、机理、特点。（P5~6） X射线：高速运动的粒子与某种物质相撞击后突然减速，且与该物质中的内层电子相互作用而产生的 连续X射线：（形成机理）高能电子打到靶材料上，突然受阻产生附加速度，电子失动能所发出的光子形成的连续X射线普。（定义）按照经典电磁辐射理论，做加速运动的带电粒子辐射电磁波产生的X射线。（特点）强度随着波长连续变化。 特征X射线：（定义）对于一定种类原子，各层能量是一定的，频率