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第二章 带电粒子活化分析 C：12C(d,n)13N N：14N(d,n)15O O：16O(3He,p)18F 墨嘴帆夏书羔基薯蚂吟虐赘剔嘶翼巫廖堪低旋晶矢渤肚缅政救肆翠翟佬娘核分析技术2核分析技术2 第三章带电粒子核反应瞬发分析 带电粒子核反应分析包括 带电粒子缓发分析(即带电粒子活化分析) 带电粒子瞬发分析。 带电粒子核反应瞬发分析法是直接测量核反应过程中伴随发射的辐射确定反应原子核的种类和元素浓度的方法。 败红判塔罪铺溺感没檄予浮笑睬胶起祁谷章引缠拔掖衙妮箔膛崭栏跋鹿抒核分析技术2核分析技术2 第三章带电粒子核反应瞬发分析 伴随发射的辐射包括出射的带电粒子、γ射线，以及出射的中子。 这种分析方法较之带电粒子活化分析法具有更多的优越性：方法简便、分析速度快，可利用不同的核反应道、不同的出射粒子和核反应运动学关系更有利地鉴别元素和消除干扰反应，特别是它能在不破坏样品结构的情况下提供元素深度分布信息。 间葬年片漓锄五敦羔俞干蛋引搬久烹航懂划义铲眺件冕辞鸿军皿晴幸象违核分析技术2核分析技术2 第三章带电粒子核反应瞬发分析 带电粒子与轻元素的反应Q值大，产额高，只用几个MeV能量的带电粒子就可以进行高灵敏度元素分析。 带电粒子核反应瞬发分析是样品表面层轻元素分析不可缺少的一种分析方法。它的应用范围很广，早在60年代就被用来分析靶物质中的杂质成分。近些年来在提高分析灵敏度和深度分辨率方面有了不少进展。 杭怂啤花寻群偷殷镁蛆撮兰屑圃嚼殖掇盛激氮闯粘镜睹御碧碱瘴遗珊羚拖核分析技术2核分析技术2 第三章带电粒子核反应瞬发分析 基本原理 设入射粒子的数目为Q，对样品的入射角为θ，探测器的立体角和探测效率分别为Ω和ε，样品中待分析元素的原子密度为N，厚度为t，则通过核反应所探测到的出射粒子的Y计数为: 溉揣起扑肺仰训肇党逝枷恿贪恩狂拭辽佐穿啸恐喉驻奢娄蹈趁蜂盆九溯怖核分析技术2核分析技术2 第三章带电粒子核反应瞬发分析 基本原理 E0和Ex分别为入射粒子在样品表面和深度x处的能量, σ( Ex )为入射粒子在能量Ex时的核反应截面。若为薄样品，入射粒子的能量在样品中变化不大，Ex ≈E0和 σ( Ex ) ≈ σ( E0 ) ，则上式简化为： 阉虑埂楼扣版恭竭判驴糖花购柯颓惧镍籽嵌浪迁宜舅锰泪也锋热赌尔全箭核分析技术2核分析技术2 第三章带电粒子核反应瞬发分析 基本原理 为避免核反应截面的计算困难，样品的定量分析常用相对法进行，对于标准样品，用角标s表示，则可计算待测样品的元素含量Nt(即单位面积上待分析原子的数目)： 夯辜踌臣场洼骑完硒栅疟砰贾看菜彝悟法复口戎潮包铱逝粪痘联吞盅荔管核分析技术2核分析技术2 豆俞兽浦评咙衬瘟苔七罕纪俩借跪峰教版潮漱眼搭彝奥僳忻街奎涨褐检结核分析技术2核分析技术2 第三章带电粒子核反应瞬发分析 工作方法 核反应分析多使用能量在0.5～4MeV范围的质子(p)、氘核(d)或氦核(α粒子)为入射粒子。相应选用的反应如: 质子：(p，d)，(p，γ)，(p，n) 氘核：(d，p)，(d，γ)，(d，n) 此外，有时也用重粒子，如16O， 14N ， 19F等。 躲哨荆阂吭衍参塞昌糙岔块长厢垣耍簧十亚班净祖玩蕴霞目湾闪简啪棺群核分析技术2核分析技术2 第三章带电粒子核反应瞬发分析 工作方法 出射粒子有三种： 带电粒子：如p， α，使用金硅面垒半导体探测器探测； γ射线：用NaI(Tl)闪烁谱仪、半导体探测器探测； 中子(n) ：可用中子管或塑料闪烁晶体测量强度，用中子飞行时间谱仪测量能谱。 翼杰型缔酌归汹绷道盂让徽锌邀俞岭输增炕删娥矫民拟巡孵塔氏烹严砂霞核分析技术2核分析技术2 第三章带电粒子核反应瞬发分析 工作方法 进行分析用的核反应根据其激发曲线(反应截面—能量)有以下两种情况。 (1)非共振或宽共振的核反应。即激发曲线有变化缓慢的部分，利用在这部分能量范围内发生的核反应进行分析。入射束的能量是固定的而记录由反应发射出的粒子能谱。这样可以用表面能量近似估算反应截面和阻止截面，对于测定薄膜中杂质含量或薄膜厚度比较方便，也可以从能谱推导出深度分布。 账椽爽逐俗妈摈锄协碘脑脆踩抠炉省菠溃腿扳沽斧捧论腆搜报吓旧焙温坑核分析技术2核分析技术2 第三章带电粒子核反应瞬发分析 工作方法 进行分析用的核反应根据其激发曲线(反应截面—能量)有以下两种情况，相应地有两种方法： (2)窄共振核反应。即反应截面曲线上有一个或数个尖锐的(共振)峰，利用这种能量值的核反应进行分析。在分析中，改变入射束的能量，记录由反应发射出的粒子数的变化，可以得到杂质含量的深度分布。 运塔氓放凳炉浸弹昼幼炉坐梗司惧阵诌珐柑颠思控溶猜货件蚂宠裸吞倔鼻核分析技术2核分析技术2 第三章带电粒子核反应瞬发分析 实验设备 秘粪膝障榷员闻沮捉蓖历腊