材料成型装备控制技术4幻灯片.ppt

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材料成型装备控制技术 凌宏江、熊晓红、吴丰顺 华中科技大学材料学院 linghj@mail.hust.edu.cn 目 录 第一章 绪论 第二章 材料成型过程中的检测技术 第三章?材料成型装备常用的执行装置 第四章 PID控制技术 第五章?材料成型装备计算机控制系统 第六章 材料成型过程中的电加热装置及控制 第七章 材料连接成型设备及控制技术 第八章 铸造成型装备及控制技术 第九章 塑性成型设备及控制技术 2.4 位移的测量 在材料成形工艺中常涉及位移的测量和控制,如塑性成形工艺中板料冲压成形冲头位置变化、气门顶杆镦粗等;连接成形工艺中被焊工件的移动、焊枪高度和电弧中心位置跟踪、点焊电极膨胀位移、电阻对焊等及某些液态成形工艺都涉及位置的检测和位移的控制。位移的测量可分为: 直线位移、角位移 按所测位移量值大小可分为:大位移测量和微小位移测量 按测量参数特性的角度可分为静态位移测量和动态位移测量。 一、位移传感器 普通形式:电阻式、应变片式、电感式、电容式、霍尔元件、磁场等形式。 数字形式:光栅、磁栅、容栅、光电编码器和感应同步器等。 位移传感器一览表(1/3) 位移传感器一览表(2/3) 位移传感器一览表(3/3) 1. 电感式位移传感器 电感(差动变压器)位移传感器( LVDT-linear variable displacement transducers ) 基于电磁感应原理,将位移量转化为电感的变化,从而测量位移,实质是一个输出电压可变的变压器。当变压器初级线圈输入稳定交流电压后,次级线圈便会有感应电压输出,该电压随被测量位移的变化而变化。 a. 工作原理:互感现象 b. 分类 双螺管线圈差动型传感器测量电路 c. 差动变压器测量电路 2. 光栅位移传感器 光栅是在基体上刻有均匀分布条纹的光学元件。用于位移测量的光栅称为计量光栅。 光栅主要由标尺光栅、指示光栅、光路系统和光电元件等组成。标尺光栅的有效长度即为测量范围。指示光栅比标尺光栅短得多,但两者刻有同样栅距。 测量直线位移的光栅为直光栅,测量角位移的光栅为圆光栅。在直光栅中,线纹密度一般为每毫米100、50、25和10线。 使用时两光栅相互重叠,使其中一片固定,另一片随着被测物体移动,即可实现位移测量。 栅式位移传感器具有分辨力高(可达1μm或更小)、测量范围大(几乎不受限制)、动态范围宽等优点,且易于实现数字化测量和自动控制,是数控机床和精密测量中应用较广的检测元件。其缺点是对使用环境要求较高,在现场使用时要求密封,以防止油污、灰尘、铁屑等的污染。 a. 莫尔条纹形成的原理 当指示光栅和标尺光栅的线纹相交一个微小的夹角时,由于挡光效应(当线纹密度≤50条/mm时)或光的衍射作用(当线纹密度≥100条/mm时),在与光栅线纹大致垂直的方向上(两线纹夹角的等分线上)产生出亮、暗相间的条纹,这些条纹称为“莫尔条纹” 。 长光栅莫尔条纹 圆弧莫尔条纹 b. 莫尔条纹技术的特点 调整夹角即可得到很大的莫尔条纹的宽度,起到了放大作用。当W一定时,θ越小,则BH越大。这相当于把栅距放大了1/θ倍,提高了测量的灵敏度。一般W可以做到约0.01mm,而B可以到6~8mm。采用特殊电子线路可以区分出B/4的大小,因此可以分辨出W/4的位移量。 光电元件对于光栅刻线的误差起到了平均作用。刻线的局部误差和周期误差对于精度没有直接的影响。因此可得到比光栅本身的刻线精度高的测量精度。这是用光栅测量和普通标尺测量的主要差别。 某厂生产光栅传感器指标 1、按外型分大型尺:QH-200 QH-400 QH-600 QH-800 2、按分辨率分有:0.2u----25u 3、按供电电压分有:5V----24V 4、按输出信号分有TTL方波、HTL方波(5V、12V、15V、24V)、RS422信号、正弦电压信号1Vp-p 栅距:0.01mm(100线对/mm)、0.02mm(50线对/mm)、0.04mm(25线对/mm) 精度:±0.008mm、±0.01mm、±0.015mm、(20℃ 1000mm) 参考标记:间隔25mm、间隔50mm、间隔100mm、间隔200mm、或全量程任意位置设一个绝对位置参考点(ABS) 量程:1000mm以内任意选择 分辨率:0.2u---25u???????????????? ?响应速度:25m/min、?60m/min 工作温度:0-45℃??????????????????? 存储温度:-40℃-55℃ 3. 光电式编码盘 数字式传感器: 把输入量转换成数字量输出 优点:测量精度和分辨力高,抗干扰能力强,能避免在读标尺和曲线图时产生的人为误差,便于用计算机处理。 最简单的数字式传感器是编码器(ADE)。如,角度数字编码器(码盘

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