统计制程管制讲义[精选].ppt

更多资料请到 天天学习网 免费下载 ★ 把這些檢驗的結果按一個有意義的基礎 條件分組,並且把不合格的項目用占子組 大小的十分之几來表示. 1. 收集數据 1.1 選擇子組的容量﹑頻率及數量 a) 子組容量 ---- 用于計數型數据的控制 圖一般要求較大的子組容量(例如 SPC 50~200或更多)以便檢驗出性能的一般 變化.對于顯示可分析的圖形的控制圖, 子組容量應足夠大,大到每個子組內包 括幾個不合格品. b) 分組頻率 ---- 應根据產品的周期確定 分組的頻率以便幫助分析和糾正發現 的問題.時間間隔短則反饋快,但也与大 SPC 的子組容量要求相矛盾. c) 子組的數量 ---- 收集數据的時間應足 夠,長使得能找到所有可能影,響過程的 變源.一般情況下,也應包括 25 或更多 的子組,以便能更好地檢驗過程的穩定 性,並且如果過程穩定,對過程性能也可 產生可靠的估計. SPC 1.2 計算每個子組內的不合格品率(p) 記錄每個子組內的下列值: 被檢項目的數量 ---- n 以現不合項目的數量 ---- np 通過這些數据計算不合格品率: p = np / n 這些數據記錄在數據表中作為初步開究的 SPC 基礎.當最近的過程數据适用時,它們可以用來 加速這一階段的研究. 1.3 選擇控制圖的坐標刻度 描繪數據點用的圖應將不合格品率作為 縱坐標.子組識別(小時,天數)作為橫坐標. 縱坐標的刻度應從 0 到初步研究數据讀 數中最大的不合格率值的 1.5 ~ 2 倍的值. SPC 1.4 將不合格品率描繪在控制圖上 描繪每個子組的 p 值,將這些點連成通常 有助于發現異常圖形和趨勢. 當描點完成后,粗覽一遍看看它們是否合 理.如果任意一點比別的高出或低出許多, 檢查計算是否正確.當發現影響過程的特 殊情況時應記錄在備注欄內. SPC 2. 計算控制限 2.1 計算過程平均不合格品率(p) 對于 k 個子組的研究時期,計算否合格品 率的均值如下: n1p1 + n2p2 +….+nkpk n1 + n2 +….+nk P = 式中: n1p1 , n2p2….及n1 , n2….為每個子組 SPC C 0.83=Cp1.00 立即檢討改善 D Cp0.83 全面檢討,停產 Ca--- (Capability of Accuracy)制程中心值 與期望中心值間的差異. Ca = 制程中心值 – 規格中心值 (規格上限 – 規格下限) *0.5 X - μ T / 2 SPC = Ca 的規格 等級　　 Ca 值　　　　 說明 A Ca=12.5% 續續維持現狀 B 12.5%Ca=25% 盡可能改善為A級 C 25%Ca=50% 立即檢討改善 D 50%Ca 全面檢討,停產 Cpk---同時考慮精密度與準確度(通常稱為制程能力指數) SPC Cpk 的規格 Cpk =Cp(1-｜Ca ｜)或 Cpk = ｜Cp ｜ Cpk =(USL – X)/3 σ (單邊值計算) 等級　　 Cp 值　　　　 說明 A 1.33 = Cpk 制程能力合格 B 1.00=Cpk1.33 能力尚可 C Cpk1.00 努力改善為