4参数实验报告orCAD..docxVIP

实 验 报 告 实验名称 参数扫描分析统计分析 课程名称 电子电路计算机辅助设计院 系 部: 电气与电子工程学院 专业班级：电子1301学生姓名： 韩辉 学 号: 1131230106同 组 人: 实验台号:指导教师： 高雪莲 成 绩： 实验日期:华北电力大学参数扫描一、实验原理1、温度特性：温度变化必然通过元器件参数值的变化导致电路特性的变化。PSpice中所有的元器件参数和模型参数都设定为常温下的值（默认27?C），在进行基本分析的同时，可以用温度分析指定不同的工作温度。2、参数扫描分析：对指定的每个参数变化值，执行一次相应的直流、交流、瞬态电路分析。可以进行参数扫描分析的参数有：独立电压源、独立电流源、温度、模型参数和全局参数。3、参数扫描分析的步骤：设置全局变量：（1）.将目标元器件的值设置为参数，形式为{参数名}；（2）.从图形符号库中调出符号PARAM，在property设置中写入参数名（不带大括号），并为该参数名设置一个具体数值参数。参数扫描分析设置：Options中的Parametric sweep，选中Global parameter，parameter填入参数名。二、实验结果1、RC电路温度特性分析RC电路温度特性分析实验的电路图如图4.1.1所示：图4.1.1 RC电路温度特性分析实验电路图参数设置如图4.1.2所示：图4.1.2 温度分析参数设置ＲＣ电路温度特性分析结果如图4.1.3所示：图4.1.3　RC电路温度特性分析结果2、差分电路温度特性分析电路温度特性分析实验的电路图如图4.２.1所示：图4.2.1 差分电路温度特性分析实验电路图参数设置如图4.２.2所示：图4.2.2 温度分析参数设置差分电路温度特性分析结果如图4.2.3所示：图4.2.3　差分电路温度特性分析结果3、RC电路参数扫描分析RC电路参数扫描分析实验的电路图如图4.3.1所示：图4.3.1 RC电路参数扫描分析实验电路图参数设置如图4.3.2所示：图4.3.2 参数扫描参数设置RC电路参数扫描分析结果如图4.3.3所示：图4.3.3 RC电路参数扫描分析结果4、差分电路参数扫描分析差分电路参数扫描分析实验的电路图如图4.4.1所示：图4.4.1 RC电路参数扫描分析实验电路图参数设置如图4.4.2所示：图4.4.2 参数扫描参数设置差分电路参数扫描分析结果如图4.4.3所示：图4.4.3 差分电路参数扫描分析结果统计分析一、实验原理1、蒙特卡洛分析：首先根据实际情况确定元器件值分布规律，然后多次“重复”进行指定的电路特性分析，每次分析是采用的元器件值都从元器件值分布着随机抽样，这样元器件值不完全相同，代表了实际情况。 完成多次电路特性分析后，对各次分析结果进行综合统计分析，得到电路特性的分析变化规律。2、最坏情况分析：按引起电路特性向同一方向变化的要求，确定每个元器件的变化方向，然后再使这些元器件同时在相应方向按其可能的最大范围变化。最坏情况是一种极端情况，在实际中出现概率极低。但是最坏情况分析反映了电路设计质量好坏。若最坏情况下电路特性也满足设计要求，那么电路成品率肯定很高。二、 实验结果1、差分电路的蒙特卡洛分析差分电路的蒙特卡洛分析实验电路图如图4.5.1所示：图4.5.1 差分电路的蒙特卡洛分析实验电路图参数设置如图4.5.2所示：图4.5.2 蒙特卡洛分析参数设置差分电路的蒙特卡洛分析实验的分析结果如图4.5.3所示：图4.5.3 差分电路的蒙特卡洛分析结果2、差分电路的最坏情况分析实验电路图如上图4.5.1所示参数设置如图4.6.2所示：图4.6.2 最坏情况分析参数设置差分电路最坏情况分析结果如图4.6.3所示：：图4.6.3 差分电路最坏情况分析结果