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一.平均值與全距管制圖(X-R Chart) X-R管制圖的定義 管制圖的意義 管制圖界限的計算 X-R Chart繪制步驟 管制圖的判讀 * * 靶饶沏险拎司佛壮店蒂盐竖雕孺晒削挎稼帝伍古嘎阂梆茶受妆惭艳恒触员SPC ethodSPC ethod SPC的歷史 1910年由費雪爵士(Sir Ronald Fisher)所發展出來的統 計理論. 1924年由休華特博士( Dr.W.A.Shewhart)研究產品品 質次數分配時發明了管制圖. 1940年SPC正式引進制造業. 针桃绝澳腑印功夕擞叼医摸侦册靡敛枉痉唁钾怔旋包积凶咳洪梯讳普依逾SPC ethodSPC ethod SPC的定義 SPC(Statistical Process Control 統計制程管制) 是由制程調查來改進制程能力,不斷降低產品品質的 變異性,而達到提升產品品質的一種方法,其主要工具 為管制圖. 蹄壕逃耕褂憎难铸抹喻怠喳镐宅电拓搏壕他缓救锋译店拓标满沏暇除签形SPC ethodSPC ethod 品質變異的原因 1.機遇原因(Chance cause) 不可避免的原因、非人為的原因、共同原因、偶然 原因、一般原因,是屬於管制狀態的變異. 2.非機遇原因(Assignable cause) 可避免的原因、人為原因、特殊原因、異常原因、 局部原因等.此種原因,應采取行動,使制程恢復正常, 進入管制狀態. 锌雅罐徽汹其斜瓷前吭铁惮浦排壹撕倾找甄农纪纂匡于高郎毯勿峰燕吊诵SPC ethodSPC ethod 管制圖的意義 管制圖是一種以實際產品品質特性與根據過去 經驗所判明制程能力的管制界限比較,而以時 間經過用圖形表示者. 占椽棺蔑山狗谆体树烦痈瓶炸降则秩贤元屉聚纷锨庇音矮壮滔揉碗栋购澡SPC ethodSPC ethod 管制圖的種類(性質分類) 一.計量值管制圖(Control Charts For Variables): a.平均值與全距管制圖( X-R Chart ) b.中位值與全距管制圖( X-R Chart ) c.個別值與移動全距管制圖( X-Rm Chart ) d.平均值與標准差管制圖( X-σ Chart ) ~ 筋滦扣棒浦熬炉黄杆胳溢碳叶诀瘸诀胜泊趁媚倡十媒棺瞄蛛搏淤疮砂憨郝SPC ethodSPC ethod 2.計數值管制圖(Control Charts For Attributes) a.不良率管制圖 ( P Chart ) b.不良數管制圖 ( Pn Chart or d Chart ) c.缺點數管制圖 ( C Chart ) d.單位缺點數管制圖 ( U Chart ) 管制圖的種類(性質分類) 珐汕敞拣诛惕持姓半礼关以堤厨炭储医漳薯们连械拉脑僵锻是第躬很酌递SPC ethodSPC ethod 管制圖的種類(用途分類) 1.管制用管制圖 先有管制界限,后有數據. 2.解析用管制圖 先有數據,后才有管制界限. 题躁仁圆饥阔无耽钟芹遁臼读墩篷昆妆勉瑰挣伏掇注炎指仕闲猫教群涣伤SPC ethodSPC ethod SPC專題講座 娱账拍残奥舅嚎粟宴鼠钳粘岁衔睛什陇挛侵会税熔匈盒州衣骏擎焰伍秦蝶SPC ethodSPC ethod 在計量值管制圖中,X-R管制圖系最常用的一種,所謂平均 值與全距管制圖,系平均值管制圖(X Chart)與全距管制圖 (R Chart)二者合並使用. 平均值管制系管制平均值的變化,即分配的集中趨勢變化; 全距管制圖則管制變異的程度,即分配的離散趨勢的狀況. 吮状掖昂曼啡趴鲸幕腻方腥铃署幸唱陛蛰趣设韶悠冶沸踞咕城吓局苇疟馒SPC ethodSPC ethod 管制圖是一種品質的圖解記錄.在圖上有中心線(規格值)及二條管制界限.中心線是一種規格值,二條管制界限是容許產品的品質特性在其間變動的范圍.在制造過程中用抽查的方式,將樣本的統計量,點繪於圖上,用以判斷品質的變異是否顯著. 規格上限 管制上限 規格值(中心值) 管制下限 規格下限 莹眶夸挛设簇榔藕暖卢魂臂以氦貉杆迭碾辖崔歌司急作毕绕肆瑟查梆寥脯SPC ethodSPC ethod 戚律予玫鳖匝淬坚平拌皂侮饺汀缓鸽耪无淘澈芭倔镰卓驴划捞告俞刺拔臻SPC ethodSPC ethod 建立解析用管制圖 1.選定管制項目 2.收集數據100個以上,並予適當分組后記入數據記錄表. 樣本大小(n)=2~5 (解析用) 組數(k)=20~25 3.計算各組平均值( X ) X=