利用weibull在对比风险下的加速寿命试验规划 机械设计制造及自动化专业（外文翻译）毕业论文.doc

上海电力学院 本科毕业设计（英文翻译） 英文原文：Accelerated Life Test Planning With Independent Weibull Competing Risks 院　　系：　 能源与环境工程学院　 　 专业年级：　 机械设计制造及其自动化 学生姓名：　 学号：　 2012 年月1日 利用Weibull下的加速寿命试验规划 摘要——本文研究规划加速寿命测试（ALT），在竞争风险的存在。故障时间由特定风险描述Weibull模型。这些故障风险被认为是独立的，和这些最低时间下测试产品的使用寿命。为表达Fisher信息矩阵，通常在ALT规划提出。最小渐近方差估计及行列式基于标准的讨论，以及相关的测试目标。该方法适用于B级的ALT规划对motorettes绝缘。指数条款阿列纽斯关系，渐近方差，最优，优性，Fisher信息，最大的可能性估计，最优的计划，时间，故障审查。 缩略 ALT 加速寿命试验 Cdf 累积分布函数 ML 最大似然 Pdf 概率密度函数 SEV 将最小极值 符号 s 测试条件的向量 k 失败的风险的数量 TI(s) 韦伯在条件风险潜伏故障时间 T(s) 在条件观察一生 n 总样本数 θ 模型参数向量 L(θ) 总对数似然 βi Weibull分布形状参数 μi((s) log[Ti(s)]位置参数的影响 σi log[Ti(s)]尺度参数的影响 temp 适用温度 γi0，γi1截距和斜率线性模型 βi0，βi1标准化γi0，γi1 x 标准化压力 π 比例分配 V 加快变量的值的范围 ξ 测试计划 m 在实验条件下的数 ξv 测试计划，分配各单位 η 登录审查时间 I(θ, ξ)Fisher信息矩阵下 Avar 阿瓦尔渐近方差 tp（x） x的一生位数 tp（x） tp（x）似然估计需要 h（tx） x在时间压力的危险函数 h（tx） h（tx）似然估计需要、言 在加速寿命试验（ALT）中，产品暴露比平时的压力条件较高，导致失败比通常条件下。在这些测试中，温度，电压，气压，湿度，使用率为变量普遍加快。电子产品（如烤面包机，垫圈，电子芯片等），例如，实验室测试将允许预计通过一段时间更长时间比。因此，ALT是获得有价值的有关产品可靠性信息手段，在实验时间限制。统计模型，物理，化学，或基于材料的性能，适合在加速水平与ALT数据，然后推算结果的使用条件。一个ALT的目标，从一个到另一个情况可能会有所不同。利用水平低的分量估计是最常见的。然而，人们可能感兴趣其他如危险功能数量，也许一个或多个模型参数。幸的是，ALT测试计划做得好，比如说，估计位数不得做估计模型参数。因此，测试计划ALT的第一个关键步骤，如果人们有一个特定的目标。规划单一故障原因ALT已被广泛在文献探讨。一个常用的方法是使用最大似然（ML）估计的大样本性质无故障时间假设为一个统计模型，往往对数正态分布或威布尔回归模型的形式。人们的目标，然后在函数表达假设参数下的Fisher信息模型。测试计划涉及选择的压力水平，并相应分配，将优化这一功能。当然也有一些情况下，当一个产品失败，因为一个或几个原因或风险。不幸的是，谷丙转氨酶规划的情况下，多重风险已经得到文献中很少关注。可扩展的大样本的ALT规划方法从失败的原因之一，多种原因。本文提出与竞争风险的ALT规划方法可以由独立的韦伯模式。 A.大纲 在过去的工作进行了讨论竞争风险的ALT规划在下一节。第二节讨论了模型的假设为ALT与独立的威布尔竞争风险。它还提供一个表达式的权利功能审查的ALT数据。第三节讨论一个ALT模式加快变量，延伸到竞争的风险情况。?Fisher信息矩阵，这是表达学习的ML估计的大样本性质所必需的，在第四节。第五节描述的标准为基础渐近方差，和派生最佳的决定因素的ALT计划。第六节讨论测试计划需要的值计划的ALT。所提出的方法适用于B类ALT绝缘第七节。 B.相关工作 在本节中，我们回顾中，在竞争的工作一个风险规划风险，竞争风险，在ALT（ALT），规划的ALT与竞争风险。 1) 竞争风险：竞争风险发生在各种情况下包括医疗，心理，和工程应用。所测试的产品，或在临床试验中的人经常受到一些风险，即失败或死亡的原因。在某些情况下，寿命的定义是最早发生在所有这些风险。例如，在医学