激光技术第六章 n（参考）.pptVIP

由τ之起伏可计得两信号源的稳定度。在t时刻，τ取样长度下的频率相对起伏为( 见P 215,一般了解) 因为同一批型号的He -Ne激光器的频率稳定度和复现性是不同的,因此,要用拍频技术对它们的相对频率稳定度和复现性作出评定。首先将各激光器与氪 基准波长进行干涉比对。 (6.6-8) 二、拍频技术测量的频率稳定性和复现性 ( 见P 216,一般了解) 拍频测量实验装置如图6.6-2所示。图中SL1和SL2是两台稳频的激光器，各自通过稳频器稳定(锁定)在参考基准中心；两台激光器输出的光经全反射镜R和部分反射透射镜S后完全重合, 并射到光电探测器上得到一差频电信号， 图6.6-2 拍频测量实验装置 继而进行放大输入到拍频测量及数据处理系统。通过频谱分析仪可直接进行观察；另外，通过频率计数器可读取拍频频率值。 设SL1作为参考频率 υ0=4.74×1014Hz(λ0=632.99142nm)，SL2为各待测激光器，在相同的运转条件下，先后测得各激光器相对于参考激光器的拍频频率。如其中某一激光器相对于参考激光器的Δυ1， Δ υ2，‥‥ Δ υN等等，N为取样测量次数。激光频率偏差的双取样阿仑方差为 式中υ2i，υ2i-1为在取样平均时间τ内连续测量两个相邻的差频信号的频率。激光频率稳定度的双取样阿仑方差为 式中， 为激光平均频率；1/2是假定每一台激光器对差频频率起伏具有相同作用的因子。因此只在数字频率计上测出N组相邻差频频率序列, 用上式即可计算出取样时间τ内每台激光器的频率稳定性。 (6.6-9) ### 作业 :1, 2, 3, 4 注：V=Ez L 返回 图1.2-4示出了某瞬间 Ex’(z) 和 Ey’(z) 两个分量(为便于观察，将两垂直分量分开画出)，也示出了沿着路径上不同点处光场矢量的顶端扫描的轨迹，在z＝0处，相位差 △ ? =0，光场矢量是沿X(Y)方向的线偏振光；在e点处，△ ? = π/ 2 ，则合成光场矢量变为一顺(逆)时针旋转的圆偏振光；在i点处， △ ? = π ，则合成光矢量变为沿着Y方向的线偏振光，相对于入射偏振光旋转了90o。 返回 非均匀加宽介质大信号反转粒子数密度和频率的关系。 1 (实曲线)入射光很弱的小信号情况 2 （虚曲线）入射光（频率ν1）很强的大信号情况 △n (ν) (二)对ν2弱光的增益系数 在第3节中我们讨论过非均匀加宽工作物质的大信号反转粒 子数密度烧孔效应．与此相类似，在ν1强光入射的条件下，非均匀加宽介质的对ν2弱光增益曲线也将在ν1频率处产生烧孔效应。这是由于频率为ν1的强光只能对表观中心频率处在ν1 附近、宽度为 范围内的发光粒子产生受激辐射，并引起反转粒子数密度的饱和，而对表观中心频率处在此频率范围之外的反转粒子数密度基本没什么影响。因此，当入射ν2 弱光频率在此范围内时，介质对它的增益系数将因反转粒子数的减少而降低，在此范围外时，介质对它的增益系数仍等于小信号增益系数。烧孔宽度与反转粒子数密度的烧孔宽度完全一样，仍由(3-3-18)式决定。烧孔深度则为： 如果激光介质为非均匀加宽的固体介质，上述大信号增益曲线烧孔效应只在入射强光频率ν1处产生，只有一个烧孔。但如果为具有多普勒加宽因素的气体介质，则烧孔效应将在频率ν1与2ν0—ν1两处产生（原因见下页）。这两个烧孔对称地分布在中心频率ν0 的两则，如图3—4—4所示。 气体介质产生两个烧孔的原因：设ν1强光沿 +z 轴(输出激光方向)传播。它和表观中心频率也等于ν1 的粒子产生共振使之受激辐射。这些粒子的运动速度在 z 轴上的分量为： 苦ν1 ＞ ν0 ，则vz ＞ 0，即这些具有沿+z 方向的速度分量。 苦ν1 ν0 ，则vz 0, 它们就具有沿 –z 方向的速度分量。 因此ν1 强光沿 +z 传播时，便消耗满足(3-4-19)式的粒子。而当ν1 强光沿 –z 轴传播时，与它发生共 振的粒子速度分量应满足： 而这些粒子的表观中心频率可以将(3-4-20)式代入(2—4—1)式中算得，为ν’1 ＝2ν0 -ν1。所以ν1 强光在激光器中往返传播时，便会在非均匀加宽气体介质的大信号增益曲线Gi(ν2 ,Iν1)上对称地烧两个孔。当然，对于单方向传播的激光放大器来说，即使是多普勒加宽的气体介质．其增益曲线也只能烧一个孔。 一个单模激光器，其振荡频率为 (因为2nL=qλ) 。当激光器产生振荡时，激活介质中的粒子受强光作用，折射率n就要发生变