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实验1 薄透镜焦距的测定 实验原理 （一）薄透镜成像公式 如图2.57所示，薄透镜像方焦距为，物距为，像距为。在近轴光线的条件下，薄透镜成像的高斯公式为 （2.111） 由上式可得 （2.112） 图2.57 薄透镜成像 （二）凸透镜焦距的测量 （1）用粗略估测法测凸透镜焦距。 以较远处的发光点（或物）为光源，用凸透镜将其发出的光线聚成光点（或像），此时，，则，即该光点（或像）位于焦点附近，因而该光点到透镜中心（光心）的距离近似等于凸透镜的焦距。这种方法简单，操作方便，但误差较大，大都用在实验前作粗略估计。 （2）用实物成实像法测凸透镜焦距。 当物位于凸透镜物方1倍焦距以外时，即时，其发出的光经凸透镜折射后成实像，用白屏获取清晰的实像，测出物距与像距，利用式（2.111）便可以求得像方焦距。 （3）用自准直法测凸透镜焦距。 如图2.58所示，在待测透镜L的一侧放置被光源照明的1字形物屏AB，在另一侧放一面平面反射镜M，移动透镜（或物屏），当物屏AB正好位于凸透镜之前的焦平面时，物屏AB上任一点发出的光线经凸透镜L折射后，变为平行光线，然后被平面反射镜反射回来，再经凸透镜折射后，仍会聚在它的焦平面上，即在原物屏平面上，形成一个与原物等大、倒立的实像A′B′。此时物屏到凸透镜之间的距离等于待测透镜的焦距，即 （2.113） 图2.58 用自准直法测凸透镜焦距 （4）用二次成像法测凸透镜焦距。 物像公式法、自准直法都因凸透镜的中心位置不易确定而在测量中要引入误差，用二次成像法来测量凸透镜焦距可以避免这一缺点。如图2.59所示，物屏和像屏之间的距离大于，且保持不变，如果沿光轴方向移动透镜，透镜在物屏和像屏之间必定存在两个位置能观察到清晰的像，透镜在这两个位置之间距离的绝对值为，运用物像的共轭对称性质，可以证明 （2.114） 图2.59 用二次成像法测凸透镜焦距 用这种方法测出的焦距一般较为准确。 （三）凹透镜焦距的测量 （1）用成像法测凹透镜焦距。 如图2.60所示，先使物AB发出的光线经凸透镜L1折射后形成一个大小适中的实像A′B′，然后在L1和A′B′之间放入待测凹透镜L2，使虚物A′B′经凹透镜L2折射后成一个实像A′′B′′。分别测出凹透镜L2到A′B′和A′′B′′之间距离、，根据式（2.111）即可求出L2的像方焦距。 图2.60 用成像法测凹透镜焦距 （2）用自准直法测凹透镜焦距。 如图2.61所示，物屏AB发出的光经凸透镜L1折射后成一实像A′B′，记录A′B′的位置；然后在L1与A′B′之间放置待测凹透镜L2，在L2后面放一平面镜M，移动L2，使在物屏平面上得到一个与AB等大、倒立的实像。由光的可逆性原理可知，AB上任一点发出的光经L1、L2后射向平面镜M的光线是平行光线，而主轴上点B′则是凹透镜L2的物方焦点。记录凹透镜L2和A′B′的位置，便可直接测出凹透镜的焦距。 图2.61 用自准直法测凹透镜焦距 实验仪器 光具座、凸透镜、凹透镜、钠光灯、平面反射镜、物屏和像屏。 实验内容 1．共轴等高调节。 （1）粗调：将物屏、凸透镜、像屏等光学元件安装在滑块上，并在光具座上尽量靠拢，调节高低左右，使各光学元件中心大致在同一高度和同一直线上。 （2）细调：使物屏与像屏之间的距离大于，根据透镜成像规律，移动透镜时可成两次像。将凸透镜从物屏向像屏缓慢移动，若所成的大像与小像的中心重合在像屏的中心，表明等高共轴已调节好；若大像中心在像屏中心的下方，说明凸透镜位置偏低，应将其位置调高，反之，应将透镜调低；若小像中心在像屏中心的下方，说明像屏位置偏高，应将其位置调低，反之，应将像屏调高；左右亦然，如此反复调整若干次，即可达到共轴等高。 2．凸透镜焦距的测量。 （1）用实物成实像法测凸透镜焦距。 用具有箭形开孔的物屏为物，用钠光灯（也可用其他准单色光源）照明，如图2.57所示。使物屏与像屏之间的距离大于，移动待测透镜，直至在像屏上得到箭形物体最清晰的像，记录物、像和透镜的位置，求出和，根据式（2.111），算出。重复5次，将测量数据填入表2.29中。 （2）用自准直法测凸透镜的焦距。 按图2.58在光具座上安装好有箭形开孔的物屏、凸透镜和平面反射镜M。移动凸透镜，仔细调节物距，并将平面镜调节到适当的方位，可以在物屏上看到一个清晰倒立等大的像。记录物屏和凸透镜的位置，二者之间的距离即为凸透镜的焦距。重复5次，将测量数据填入表2.30中。 （3）用二次成像法测凸透镜焦距。 将物屏与像屏固定在大于的距离，如图2.59所示，测出它们之间的距离；移动透镜，使像屏上得到清晰放大的像，记录透镜的位置，移动透镜至另一位置，使像屏上得到清晰缩小的像，再次记录透镜的位置，求出透镜