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测试结果分析和评价 缺陷密度: 基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数(Defects/KLOC)来测量的。称为缺陷密度(Dd)，其测量单位是defects／KLOC。可按照以下步骤来计算一个程序的缺陷密度： 累计开发过程中每个阶段发现的缺陷总数(D)。 统计程序中新开发的和修改的代码行数(N)。 计算每千行的缺陷数Dd=1000*D/N。 例如，一个29.6万行的源程序总共有145个缺陷，则缺陷密度是： Dd＝1000*145/296000=0.49 defects／KLOC。 在计算缺陷密度时，最重要的是要使用正确的规模测量。 测试结果的分析和评价 输出《测试综合报告》： 测试过程的总结 测试数据分析（按照严重程度等方式分类统计的分析，包括测试密度等） 产品主要问题和总体评价 遗留的问题总结 最终的测试结论 测试结果分析和评价 为了了解和控制缺陷带来的费用，很有必要测量缺陷排除的效果测量： 一种测量方法是计算每小时排除缺陷的个数； 一种是计算缺陷排除效益，即测量通过某一排除方法所发现的缺陷的百分比。 测试结果分析和评价 测试覆盖率测量 语句覆盖率 测试经历语句数/总语句数 分支覆盖率 测试经历支路数/总支路数 简单路径覆盖率 测试经历简单路径数/总简单路径数 功能覆盖率 界面数 菜单数 输入/输出的数据元数 构件、模块 … 4.5软件测试经验分享 所有的测试都应