断层扫描光谱成像
光谱层析算法在ELISE模型中的模拟研究研究背景及目的层析成像(断层扫描成像,Tomography)是指对被测物体进行横断面成像,它实际上是一个对所收集逆散射信号进行反演变换,得到被测物体深层信息的技术过程。[1]在负离子源SPIDER的束流检测中,光谱层析成像技术用于引出束流的均匀度的测量分析。而在源内等离子体与氢负离子的产生过程的检测中,并没有相关的应用。IPP打算在ELISE的OES系统上采用光谱层析成像技术。在ELISE的OES中,尽管诊断线只有14条,但是通过采用光谱层析成像技术,能够得到PG前等离子体形状位置及其主要参数的重建,大大提高光谱检测的空间分辨率。层析成像主要是通过选择合适的层析反演算法,通过对收集到的光谱谱线发射率进行反演,重建出等离子体的状态。[2]IPP针对ELISE的模型进行了光谱层析成像的模拟工作,通过模拟结果来论证光谱层析成像在等离子体诊断中的可行性,并且指导最终的实际的OES的布置和最终的光谱层析成像算法及其剖分像素的选择。模拟层析算法的研究过程根据ELISE和BATMAN实验结果,可以得到在单个RF激励器的引出端面上,等离子体发射率的分布能够通过一个钟型函数描述,如下图1所示。此函数具体表示为: 对每个激励器来说,x是沿激励器半径的极坐标, 是激励器中心。图1 这个分布函数表示了等离子体发射率在中心很平缓,两端急剧下降。在4个激励器端口得到4个
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