X射线绪论讲解.ppt

目 录 (Content) 绪　　论 一 教学要求 二、教学的内容、意义、学习方法 本课程是一门试验方法课，主要介绍采用x射线衍射和电子显微镜来分析材料的微观组织结构与显微成分的方法。 （一）显微组织结构的内容 1．显微化学成分； (不同相的成分，基体与析出相的成分，偏析等) 2．晶体结构与晶体缺陷； (面心立方、体心立方、位错、层错等) 3．晶粒大小与形态； (等轴晶、柱状晶、枝晶等) 4．相的成分、结构、形态、含量及分布； (球、片、棒、沿晶界聚集或均匀分布等) 5．界面； (表面、相界与晶界) 6．位向关系； (惯习面、孪生面、新相与母相) 7．夹杂物； 8．内应力。 (喷丸表面，焊缝热影响区等) （二）显微组织结构与成分分析传统测试方法 光学显微镜是最常用的也是最简单的观察材料显微组织的工具。它能直观地反映材料样品的组织形态。但由于其分辨本领(约200nm)、放大倍率(约1000倍)低，只能观察到100nm2尺寸级别的组织结构．对于更小的组织形态与单元则无能为力。同时由于光学显微镜只能观察表面形态而不能观察材料内部的组织结构，更不能对所观察的显微组织进行同位微区成分分析，而目前材料研究中的微观组织结构分析已深入到原子的尺度，因此光学显微镜已远远满足不了当前材料研究的需要。 2.化学分析 采用化学分析方法测定试样的成分只能给出一块试样所含每种元素的平均含量，并可以达到很高的精度，但不能给出所含元素分布情况(如偏析，同一元素在不同相中的含量不同等)。光谱分析给出的结果也是样品的平均成分。而实际上元素在样品中的分布不是绝对均匀的，即在微观上是不均匀的。恰恰是这种微区成分的不均匀性造成了微观组织结构的不均匀性，以致带来微观区域性能的不均匀性，这种不均匀性对材料的宏观性能有重要的影响作用。 （三）X射线衍射与电子显微镜 XRD是利用x射线在晶体中的衍射现象来分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷(位错等)、不同结构相的含量及内应力的方法。这种方法是建立在一定晶体结构模型基础上的间接方法。即根据与晶体样品产生衍射后的x射线信号的特征去分析计算出样品的晶体结构与晶格参数，并可以达到很高的精度。然而由于它不是像显微镜那样直观可见的观察，因此也无法把形貌观察与晶体结构分析微观同位地结合起来。由于x射线聚焦的困难，所能分析样品的最小区域(光斑)在毫米数量级，因此对微米及纳米级的微观区域进行单独选择性分析也是无能为力的。 2电子显微镜(EM，Electron Microscope) 透射电子显微镜(TEM，Transmission Electron)。TEM是采用透过薄膜样品的电子束成像来显示样品内部组织形态与结构的。因此它可以在观察样品微观组织形态的同时，对所观察的区域进行晶体结构鉴定(同位分析)。其分辨率可达10-1nm，放大倍数可达106倍。 扫描电子显微镜(SEM，Scanning Electron Microscope)。SEM是利用电子束在样品表面扫描激发出来代表样品表面特征的信号成像的，最常用来观察样品表面形貌(断口等)。分辨率可达到1nm，放大倍数可达2x105倍。还可以观察样品表面的成分分布情况。 电子探针显微分析(EPMA，Electron Probe Micro-analysis)。EPMA是利用聚焦得很细的电子束打在样品的微观区域，激发出样品该区域的特征X射线，分析其x射线的波长和强度来确定样品微观区域的化学成分。将扫描电镜与电子探针结合来，则可以在观察微观形貌的同时对该微观区域进行化学成分同位分析。 扫描透射电子显微锐(STEM， Scanning Transmission Electron Microscope)。STEM同时具有SEM和TEM的双重功能，如配上电子探针附件(分析电镜)则可以实现对微观区域的组织形貌观察，晶体结构鉴定及化学成分测试三位一体的同位分析。 (四) 本课程内容及要求 内容 本课程主要讲授X射线衍射分析的基本原理、实验方法及应用，透射电镜、扫描电镜的基本原理与方法及应用。 要求 掌握基本原理、了解常用的实验方法。在实际工作中能正确地选用本课程中介绍的实验方法，并能与专门从事x射线与电子显微分析工作的人员共同制定试验方案与分析试验结果。 * * 主讲：余泉茂 电话E-mail: bsyqm@163.com 江西财经大学电子学院 2007.3 材料微观测试技术 绪言（1学时） 第一章 X射线的性质（3学时） 第二章 X射线衍射方向和强度（7学时） 第三章 多晶体分析方法（7学时） 第四章 X射线物相分析（6学时） 第五章 电子光学基础（3学时） 第六章 透射电子显微镜（8学时） 第七章 复型技术 （3学时