材料特性表征(课件总结).doc

1. 组织形貌分析仪器发展的三个阶段：光学显微镜、电子显微镜、扫描探针显微镜 光学显微镜： 2. 光学显微镜数值孔径公式各字母所代表的含义：NA= nsinα数值孔径（NA）是物镜前透镜与被检物体之间介质的折射率（n）和半孔径角（α）的正弦之乘积 3. 光学显微镜的分辨率：样品上相应的两个物点间距离?r。定义为透镜能分辨的最小距离，也就是透镜的分辨本领。 及提高分辨率的方法：使用低波长光源，增大介质n值，增大孔径角，提高对比度。 4. 光学透镜的像差包括：球面像差、色像差、像域弯曲 5. 焦深：焦点深度的简称，即在使用显微镜时，当焦点对准某一物体时，不仅位于该点平面上的各点都可以看清楚，而且在此平面的上下一定厚度内，也能看得清楚，这个清楚部分的厚度就是焦深。 6. 工作距离：也叫物距，即指物镜前透镜的表面到被检物体之间的距离。镜检时，被检物体应处在物镜的一倍至二倍焦距之间。 电子光学基础： 7. 电子显微分析的特点：(1) 可以在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、结构，选择分析区域。分辨率高：0.2~0.3nm; 放大倍数高：20~30 万倍 (2) 是一种微区分析方法，具有高度分辨率，成像分辨率达到0.2~0.3mm,可直接分辨原子，能进行nm尺度的晶体结构及化学组成分析。(3) 各种电子显微镜分析仪器日益向多功能、综合性方向发展，可以进行形貌、物相、晶体结构和化学组成等的综合分析 8.电子波波长与电子运动速度的关系： 9. 电磁透镜的聚焦原理: 通电的短线圈就是一个简单的电磁透镜，它能造成一种轴对称不均匀分布的磁场。穿过线圈的电子在磁场的作用下将作圆锥螺旋近轴运动。而一束平行于主轴的入射电子通过电磁透镜时将被聚焦在主轴的某一点。 10. 电磁透镜的像差分成两类：第一是因为透镜磁场几何上的缺陷造成的，叫做几何像差，包括球面像差、像散和像畸变。第二是由于电子波长或者能量非单一性而引起的，与多色光相似，叫做色差。 11. 电磁透镜的场深或景深：在保持象清晰的前提下，试样在物平面上下沿镜轴可移动的距离，或者说试样超越物平面所允许的厚度。 12. 电磁透镜的焦深：是指在保持象清晰的前提下，象平面沿镜轴可移动的距离，或者说观察屏或照相底版沿镜轴所允许的移动距离。 电子与固体物质相互作用 13. 电子与固体物质发生弹性散射特点：弹性散射：elastic scattering 如果在散射过程中入射电子只改变方向，但其总动能基本上无变化，则这种散射称为弹性散射。 弹性散射的电子符合布拉格定律。携带有晶体结构、对称性、取向和样品厚度等信息。在电子显微镜中用于分析材料的结构。 14. 电子与固体物质发生非弹性散射，原子被激发的类型有哪些：单电子激发（二次电子）、等离子激发、声子激发。 15. 二次电子的定义、特点及应用。二次电子：发生非弹性散射时，被入射电子轰击出来的样品中原子的核外电子。特点：对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。分辨率高，可达5-10 nm。应用：扫描电子显微镜成像主要手段。 16. 在入射电子束作用下X射线产生的物理机制：当入射电子与原子中内层电子发生非弹性散射时也会损失其部分能量，这部分能量将激发内层电子电离，芯电子激发，在此过程中除了产生二次电子外还伴随着X射线光子产生，失掉内层电子的原子处于不稳定的较高能量状态，依据一定的选择定则向能量较低的量子态跃迁，跃迁的过程中将可能发射具有特征能量的X射线光子，用于分析材料的成分。 17．在入射电子束作用下俄歇电子产生过程：入射电子在样品原子激发内层电子后外层电子跃迁至内层时，多余能量如果不是以X射线光子的形式放出，而是将能量传递给一个最外层电子，该电子获得能量挣脱原子核束缚，并逸出样品表面，成为自由电子，这样的自由电子称为俄歇电子。 18. 电子和物质相互作用产生的信号有哪些？透射电子、透过散射电子、二次电子、特征X射线、电子束电导、电子生伏特、阴极荧光、背发射电子、俄歇电子。举例说明有效作用深度：俄歇电子 0.4 - 2 nm，二次电子 5-10 nm，背散射电子 100 nm - 1 um，X射线光子 500 nm - 5 um。 透射电镜： 19. 透射电镜的分辨率：点分辨率: r=0.23～0.25nm，线分辨率: r=0.104～0.14nm 20. 透射电镜中质厚衬度定义：对于无定形或者非晶体试样，电子图像的衬度是由于试样各部分的密度ρ或者原子序数Z和厚度t不同形成的，这种衬度称为质量厚度(ρt) 衬度，简称质厚衬度。绘图说明质厚衬度形成过程。 21. TEM的样品制备方法:支持膜法、复型法、晶体薄膜法、超薄切片法。 22. 支持膜材料必须具备下列条件：①本身没有结构，对电