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- 2017-02-09 发布于湖北
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TOFD技术的现场应用 TOFD技术的现场应用 谢 谢! TOFD技术和PE方法组合检测焊缝的解决方案 多通道一次非平行扫查方式 ,完成发现缺陷和对缺陷初步评价 非平行扫查方式转换为平行扫查方式,检测缺陷的详细信息 五通道一次非平行扫查方式 当焊缝厚度大于6mm小于等于70mm时,采用一对TOFD探头覆盖整个焊缝厚度范围,另外采用两对PE探头从两边对焊缝根部和盖帽区域补充检测。 五通道解决方案 七通道解决方案 当焊缝厚度大于100mm小于等于200mm时,采用三对TOFD探头覆盖整个焊缝厚度范围,另外采用两对PE探头从两边对焊缝根部和盖帽区域补充检测。 七通道解决方案 用普通PE探头与TOFD同时进行扫查,有效的弥补TOFD探测的盲区 K2探头 K1探头 TOFD探头 TOFD技术图像的处理工具 差分法通过移除直通波或侧向波,增强近表面分辨力 数据分析模块功能 TOFD技术图像的处理工具 直通波与底波拉直TOFD图像 数据分析模块功能 通过设置不同的增益增加TOFD对比度 数据分析模块功功能 TOFD技术图像的处理工具 通过设置不同的增益增加B扫对比度 数据分析模块功能 TOFD技术图像的处理工具 检测结果图像1:1比例显示,有利于与射线底片进行对比 数据分析模块功能 TOFD技术图像的处理工具 曲线游标拟合分析和TOFD尺寸判读,记录并标记缺陷 数据分析模块功能 TOFD技术图像的处理工具 TOFD技术图像的测量工具 1.抛物线指针测量 2.SAFT技术测量 TOFD技术图像的测量工具 在TOFD的D扫描中,横向移动抛物线指针使其与缺陷的弧线拟合,则两抛物线指针的距离就是缺陷的长度,这种方法测量精度在+5mm内.拟合中如效果不太好,可以断定缺陷外形为曲线形. 1.抛物线指针测量 2.SAFT技术测量 SAFT技术,又称合成孔径聚焦技术,该技术能产生宽度是晶片尺寸一般的准直声束,而且扩散很小,对与测量小于正常波束的扩散范围比较有效果,但SAFT技术分析中所耗时间长,效率比较低 TOFD图像的判性分析 点状缺陷X射线底片 TOFD图像的判性分析 点状缺陷TOFD扫查图(小夹渣) 点状缺陷TOFD扫查图(气孔) TOFD图像的判性分析 TOFD扫查图(密集型气孔) TOFD扫查图(条状夹渣 ) TOFD图像的判性分析 TOFD扫查图(裂纹) 裂纹X射线底片 常见缺陷在TOFD中的显示 常见缺陷在TOFD中的显示 常见缺陷在TOFD中的显示 常见缺陷在TOFD中的显示 常见缺陷在TOFD中的显示 常见缺陷在TOFD中的显示 常见缺陷在TOFD中的显示 常见缺陷在TOFD中的显示 常见缺陷在TOFD中的显示 TOFD 检测仪 TOFD探头架 TOFD探头架 TOFD检测 TOFD技术的现场应用 TOFD技术的现场应用 TOFD技术的现场应用 当缺陷沿扫查方向有一定长度时,连续扫查得下如下D扫图像 直通波被阻断 下端点 底波 直通波断开 只有下端点信号 当表面开口深度非常小时,直通波并没有断开,但明显滞后 直通波被阻断 底波 直通波滞后 底波被阻断 上端点 底波 2.下表面开口裂纹 没有下端点和底波 底波断开 上端点 底波被阻断 上端点 底波 2.下表面开口裂纹 由于开口深度较小,无法完全阻当直通波, 因此底波并未消失,但明显滞后 没有下端点和底波 上端点 底波滞后 底波 3.短小缺陷 在焊缝中出现短小缺陷,上下端点距离很小, 因此没有明显区分的上下端点衍射, 因此会出现一个非常明显的不规则多次振荡信号 底波 4.近表面缺陷 在近表面发现的缺陷,由于与直通波距离近, 因此上端点与直通波叠加在一起难以区分。 5. 单个气孔 由于几何尺寸小,因此没有明显分离的上下端点回波, 形成一个独立的小月牙状,相位无法分辨 TOFD扫查模式 平行扫查:又称横向扫查,是指扫查方向与超声波束方向是平行的,扫查结果称为B-scan,所得结果主要是Y轴和Z轴方向值.该扫查方法能为我们提供很准确的深度结果,但因扫查时探头须越过焊缝,操作起来相对烦琐. 非平行扫查:又称纵向扫查,是指扫查方向与超声波束方向不平行,扫查结果称为D-scan,所得结果主要是X轴和Z轴方向值,扫查方便,适用大范围的焊逢检测,一般采用探头对称布置于焊缝中心线两侧沿焊缝长度方向扫查. ⒈左偏置非平行扫查 ⒉右偏置非平行扫查 TOFD 扫查图 在一幅好的 TOFD图上可以清晰地看到直通波。 一般用于校准。 如果待检表面比较干净缺陷信号比较 明显。 内壁反射很强。 典型TOFD 成像 直通波 底面回波 TOFD扫查模式 TOFD检测前要重点控制的指标
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