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- 2017-02-09 发布于河南
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Confidentiality Label AA分析的常见干扰 A. 光谱干扰 B. 蒸发干扰 C. 电离干扰 D. 基体干扰 E. 背景吸收 A. 光谱干扰 1. 干扰物与分析物之谱线重叠 2. 分析物谱线包含于干扰分子宽谱线中 解决方法 : 1. 减少狭缝宽度 2. 应用其他的光谱线 3. 采用化学分离 光谱线的重叠干扰 在原子吸收分析条件下,产生的发射和吸收线较少,常用的分析线更少。(1)吸收线干扰 大量实验表明,已观察到的吸收线干扰有13对: B. 蒸发干扰 部份样品会产生改变挥发速率之盐类, 或干扰物与分析物产生不易裂解之热稳 定物质,使分析物不能完全成为自由原子。 解決方法: 1. 增加火焰温度 2. 加入化学释放剂 3. 加入保护性试剂 4. 化学分离 C. 电离干扰 分析物因其电离能很低,在火焰中极易离子化,造成灵敏度降低。 解決方法: 通常采用加入消电离剂的办法,即在试样中加入大量(100倍以上)更容易离子化元素,例如 Na, K, Cs, Sr…… 來抑制分析物游离。 例如: C2H2/Air 測 Ba 加入 2000 至 5000 ppm 之KCl。 D. 基体干扰 雾化过程若测试样品与标准样品溶液之粘稠性或表面张力力不同,而造成提升速率或雾化效率不同。 解決方法: 1.使测试样品与标准样品溶液之成分条件愈接近愈好。于样品
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