实验1与非门测试.docx

实验一 TTL 与非门的静态参数测试 实验报告一、实验数据（一）1.低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流 ICCH及静态平均功率ICCLICCH测量值2.029mA0.674mA6.7575mW2. 输入短路电流IIS和输入漏电流IIHIISIIH测量值0.168mA数值过小无法测量3. 输出高电平UOH及关门电平UOFFUOHUOFF测量值2.418V0.955V4. 输出低电平UOL及开门电平UON测量值UOLUON测量值0.330V1.160V（二）测试 TTL 与非门的电压传输特性ui(V)00.20.40.60.80.90.951.0uo(V)3.0862.9972.8622.7132.6002.4552.1561.753ui(V)1.051.061.071.081.091.101.151.2uo(V)1.3001.2011.1110.9330.1530.1520.1510.151ui(V)1.31.52.02.53.03.53.7uo(V)0.1510.1510.1510.1510.1510.1510.151（三）平均传输延迟时间tpd由示波器测得T=96.00ns，于是.波形如下：二、实验分析1.实验原理图 图1 测量低电平输出电源电流ICCL 图2 测量高电平输出电源电流 ICCH 图3 测量输入短路电流IIS 图4 输入漏电流IIH 图5输出高电平UOH及关门电平UOFF 图6 测量输出低电平UOL及开门电平UON图7 测试TTL与非门的电压传输特性图8 测量平均传输延迟时间tpd2.由实验（二）所得参数，运用 matlab 画出电压传输特性曲线。3.实验数据分析a 低电平输出电源电流ICCL为2.029mA，高电平输出电源电流ICCH为0.674mA，且低电平输出电源电流ICCL比高电平输出电源电流高，符合理论值。b 输入短路电流 IIS为0.168mA，而输入漏电流IIH为微安级，由于仪器精度不够无法测出有效数据，示数为0mA，说明其前级门电路带负载的个数较多。c由UOH，UOL，UOFF，UON四组数据得，74LS00的跳变电压在 1V 左右，从 0.955V~1.160V。高电平为2.418V,低电平在0.330V，整体偏小，但在理论值范围内，说明实验箱内除74LS00外的部分有一定分压。d由实验（二）的电压传输特性曲线来看，在输入电压为低电平时，输出电压随输入电压的增大而减小，且波动较大，在1V左右时有突变，输出电压降为低电压，此后再增加输入电压输出电压基本不变，维持在一个低电平。从曲线中读出，UOH≈3.1V，UOL≈0.15V，UOFF≈0.9V，UON≈1.1V，与前面实验所得数据基本符合。e由示波器所得波形可以测出T=96.00ns，于是.符合理论值。4．实验误差分析a 本实验所得数据相对偏小。用万用表测出接入实验箱的电压为5.0V，但测得74LS00两端的电压仅有3.7V且会有波动，因此实验箱其它部分的元件分压对数据造成了一定误差。b测量误差。万用表笔头与测量口的接触非常不稳定，随着手上力度的变化，示数都会发生较大的偏差。为了减少误差，我们在实验（一）中采取的主要方式是从四端口分别测出一组数据后求平均值。c电位器的阻值变化不均匀，使得ui无法精确的停在的特定电压上。三、实验思考题1.TTL与非门和CMOS与非门有何异同点？答：TTL与CMOS的相同点有：输出端可以悬空，都有与非逻辑功能，电压特性曲线相似，都有UOH，UOL，UOFF，UON 参数。TTL与CMOS 的不同点有： （1）工作电压不同，TTL 工作在 VCC 下，CMOS工作在下VDD下；（2）TTL的输入端可以悬空，而 CMOS 的输入端悬空会对元器件有影响；（3）TTL和CMOS的输出高低电平不同，CMOS的高低电平约为5V和0V。2 .如何将与非门作为非门使用？答：由于与门AA=A，所以只用将与非门的两端同时输入相同的信号即可实现非门的作用。3 .TTL或非门（或门）不用的输入端应如何处理？答：由于悬空时为高电平，故为了保证或门的正常工作，应让输入端接地。