《用中规模组合逻辑器件设计组合逻辑电路》的实验报告.docVIP

实验六 　用中规模组合逻辑器件设计组合逻辑电路 一、实验目的 1．学习中规模集成数据选择器的逻辑功能和使用方法。 2．学习使用中规模集成芯片实现多功能组合逻辑电路的方法。 二、设计任务 用数据选择器74LS151或3/8线译码器设计一个多功能组合逻辑电路。该电路具有两个控制端C1C0，控制着电路的功能，当C1C0＝00时，电路实现对输入的两个信号的或的功能；当C1C0＝01时，电路实现对输入的两个信号的与的功能；当C1C0＝10时，电路实现对输入的两个信号的异或的功能；当C1C0＝11时，电路实现对输入的两个信号的同或的功能。 三、设计过程 （1）根据题意列出真值表如下所示，再填入卡诺图中。 C1 0 0 1 1 C0 0 1 0 1 A 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 B 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 Y 0 1 1 1 0 0 0 1 0 1 1 0 1 0 0 1 （2）、建立Y（C1、C0、A、B）的卡诺图及降维图，如图所示。 AB C1C0 00 01 11 10 00 0 1 1 1 01 0 0 1 0 11 1 0 1 0 10 0 1 0 1 A C1C0 0 1 00 B0 11 01 02 B3 11 6 B7 10 B4 5 　　F函数降维图（图中变量C1C0A换成C1C0B结果不变） （3）、减少Y函数的输入变量，将4变量减为3变量，通过降维来实现。如上图所示。这时，数据选择器的输入端D0 ~ D7分别为： D0=B, D1=1, D2 =0, D3 =B, D4 =B, D5 =, D6 =, D7 =B （4）、F函数逻辑图如下图所示 四、实验用仪器、仪表 数字电路实验箱、万用表、74LS151、74LS00。 五、实验步骤 检查导线及器件好坏。 按上图连接电路。C1、C0、A、B分别接逻辑开关，检查无误后接通电源。 按真值表逐项进行测试并检查是否正确，如有故障设法排除。 结果无误后记录数据后拆线并整理实验设备。 实验数据如下： C1 0 0 1 1 C0 0 1 0 1 A 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 B 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 Y 0 1 1 1 0 0 0 1 0 1 1 0 1 0 0 1 实验证明，实验数据与设计值完全一致。设计正确。 六、设计和实验过程的收获与体会。 1、设计过程的收获与体会： ① 设计前要将真值表列出。 ② 用低维数据选择器实现高维逻辑函数时，首先要降维，将多出的变量作为记图变量。当需要降维处理时，将谁作为记图变量是任意的，但结果是不同的。因此要进行降维时，要确定哪几个变量作为数据选择器的地址输入变量。 ③ 可用Electronics Workbench进行仿真。以验证设计正确与否。 2、实验过程的收获与体会： ① 74LS151的第七脚必须接低电平； ② 出现故障时，首先检查地址输入端的电平，看其状态是否与相接的逻辑电平开关相同。如不相符，则可能存在断路现象。如相同，则检查其输出是否与相应数据端输入相同，如相同，可能存在设计错误，如不同，则可能器件已损坏。 ③ 实验逻辑电路图最好把集成块的引脚标上，以便接线和检查。 用数据选择器74LS151或3/8线译码器设计一个多功能组合逻辑电路。该电路具有两个控制端C1C0，控制着电路的功能，当C1C0＝00时，电路实现对输入的两个信号的或的功能；当C1C0＝01时，电路实现对输入的两个信号的与的功能；当C1C0＝10时，电路实现对输入的两个信号的异或的功能；当C1C0＝11时，电路实现对输入的两个信号的同或的功能。 设A2=C1 A1=C0 A0=A ⊙ 用138器件： Y= (A+B)+C0 (AB)+ C1(AB)+ C1C0 (AB) 设D=C1 C=C0 B=A A=A ( C1=(1)=(1) = S1 (2) （实验用74LS138一块、74LS20一块、74LS00一块） 用3—8译码器74LS138设计一个三位二进制码与循环码的可逆转换电路。K为控制变量。 （1）根据题意列出真值表如下所示： K 输入 输出 A2 A1 A0 Q2 Q1 Q0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 1 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 1 1 1 1 1 0 1 0