2.3 与理想模型的偏离.pptVIP

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  • 2017-02-10 发布于北京
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2.3 直流特性与理想模型的偏离 西南科技大学理学院 2011.3.1 一、复 习 PN结中电子和空穴的扩散电流密度分别为 一、复 习 正偏时势垒区两边界附近少子浓度的变化 一、复 习 无限长pn结伏安特性方程 二、理想pn结模型(四个假设) (1)不考虑势垒区中的产生与复合 结果:电子、空穴电流通过势垒区时保持不变 (2)小注入 结果:多子浓度约等于平衡时浓度,对少子只需要考虑扩散电流 (3)耗尽层近似 结果:空间电荷区为高阻区,外加电压几乎降落在空间电荷区 二、理想pn结模型 (4)势垒区两边界处载流子浓度服从波尔兹曼分布 结果: 二、理想pn结模型 I-V特性曲线 三、实际PN结直流I-V特性与理想模型的偏离 1、实际直流I-V特性的特点 (1)反向: 反向V↑, 增大 (2)正向: 正向电流较小时, 正向电流较大时, 正向电流一般大小时, 2、实际与理想I-V特性曲线对比 I-V特性曲线 3、引起偏离的原因 偏离原因一 势垒区产生电流对PN结反向电流的影响 分析:反偏时势垒区总电场大于平衡时内建电场→势垒区边界处少子浓度为零→势垒区内部载流子浓度为0

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