实验数字mosic功能和参数测试.docVIP

数字MOSIC功能和参数测试 本实验的目的是熟悉MOSIC的功能和参数的物理意义，掌握其测试方法。测试包括MOSIC的逻辑功能、最高工作频率、静态功耗、工作功耗、输入高（低）电平、输出高（低）电平、输入电流、输出驱动能力及延迟时间等。 实验原理 MOSIC静态功耗（也称维持功耗）P MOSIC的静态功耗是：当输入端为固定的逻辑点评，输出端空载，输出状态固定不变是电路所消耗的能量。静态功耗是温度的函数。由于静态是从电源到底没有支流通路，MOSIC静态功耗很小，它只取决于漏电情况。 输出高电平（低电平V）。输入高电平（低电平V） 当输入输出为固定的V或V，输出端空载时，所输出的固定电平为输出高电平V及输出低电平V。 当输出端维持应有的V和V时，输出端所能输入的最小高电平V或最大低电平V。 V（V）越接近V （V），V （V）越远离V （V），其电路性能越好。 3.逻辑功能和最高工作频率f (1)现实根据被测的IC应有的逻辑功能确定输入输出波形时序，搭一个相应的测试电路产生这些输入波形并把其送入被测IC的输入端，用示波器或逻辑分析仪测试输入输出波形所对应的时序关系。 （2）最高工作频率f取决于电路各级在动态工作中的充放电速度。在额定的负载下，保持正确逻辑关系和额定的波形幅度，电路所能承受的输入脉冲的频率为f。 4．工作功耗P 静态功耗和动态功耗的总和为电路的工作功耗。 P=P+P+P 动态功耗包括顺态功耗和交变功耗P。其中P是在动态工作中电源对电容（包括级间栅电容、Pn结电容和输出级负载电容等）的充放电所消耗的能量。 P=ΣCf(V-V)V P是由于在交变时波形的上升沿和下降沿使得电路从V到V有直流通路而消耗的能量。 P∝f 动态功耗是无法单独测试的，而对于CMOS电路由于P很小，因此 P≈P+P 在固定负载情况下它与工作频率成正比，在固定工作频率时，它与负载电容成正比。 5．延迟时间t 延迟时间t反映电路某输出端对输入端变化的影响速度，它的定义如图36。1所示。 t=（t+t） 6．输出驱动能力 (1)输出级队电路负载的驱动能力用⊿t/1F /表示，即单位负载电容的增加对输出级延迟时间的影响。这个制约小，说明电路负载能力越强。测试和计算用式 ⊿t/1F= （2）输出级对电流负载的驱动能力用拉、灌电流表示。 灌电流I——在满足输出端额定的最大输出低电平V时，从输出到V向电路所灌电流的最大值。 拉电流I——在满足输出端额定的最小输出高电平V时，从输出端到V从电路拉出电流的最大值。 I 和I越大，说明电路的电流负载能力越强。 7．输入电流I 输入端界固定的V（或V），从输入端至电路的（或）端所通过的电流即为输入电流I。MOSIC的输入电流取决于栅的漏电和电路保护中pn结漏电等。因I很小，无法用万用表直接测量，可以在输入端输入串联一个很小的采样电阻R，此时，通过R和万用表的输入电阻R的电流相等。因此 I≈V/ R 实 验 内 容 测试室温下高速CMOS四异或门74HC86的静态功耗，并于相同功能的双极电路74LS86静态功耗对比。 测量74HC86的输入高电平和低电平，输出高电平和低电平。 测量低速CMOS异或门CD4030的逻辑功能和负载电容为5pF的最高工作频率。 用逻辑分析仪测试高速CMOS十进可逆计数器74HC193的逻辑功能。 测量CD4030的工作功耗及其和频率的关系。 测量CD4030和74HC86的延迟时间，并进行比较。 测量CD4030输入级对电容和电流的负载能力。 测试CD4030输入级的输入电流。 实 验 步 骤 MOSIC静态功耗 按图3连接测试线路。每个输入端必须接或。 稳压源调至5V，电流表置最小量程，记录稳定电流值。将、与断开，观测电流。 用74LS86代替74HC86重复以上实验。 2。输入高电平和低电平，输出高电平和低电平 （1）将图3测试线路中端与之间并入一个电压表，测量端的输出低电平。 （2）上图中的改接至，测量端的输出高电平。 （3）按图4连接测试线路。 （4）电压源调至5V，调节电位器使从开始下降，直至输出电压从开始上升，此时=。 （5）调节电位器使从开始上升，直至输出端的输出电平从开始下降，此时=。 3。逻辑功能和最高工作频率 （1）用双踪示波器对简单的逻辑电路CD4030测试 1）按图36.5连续测试线路，可变电容调至15pF，脉冲发生器频率置100k，=5V。 2）用双踪示波器、分别测量输入端和的波形。 3）用、分别测量、的波形并记录相对、的波形图。 4）提高脉冲发生器频率，同时调节时基旋钮，观察波形的变异，测试最高工作频率（CD403