TS16949五大工具：MSA.ppt

关键日期:Jul 01, 2011 测量的基本概念 测量 将一个未知量与一个已知的或已经接受的参照值进行的比较。 我们使用测量数据来判断产品或过程是否合格，制定有关过程管理的决策。 测量过程可以看成是一个制造过程，它产生的数据是过程的输出。 测量的基本概念 测量系统： 是对被测的特性赋值的操作者、设备（包括量具）、软件、操作程序、测量环境的集合，用来获得测量结果的整个过程称为测量过程或测量系统。 测量系统变差对产品决策的影响 测量系统变差对产品决策的影响 由于我们的目标是尽可能地对产品状态做出正确的决定，所以会做出以下选择： 1）改进生产过程：减少过程变差，不会生产出落在区域Ⅱ的产品。 2）改进测量系统：减少测量系统误差以减少区域Ⅱ的大小，这样，生产出的所有的产品将全部落在区域Ⅲ内，这就能减少做出错误的风险。 测量的基本概念——分辨力 分辨力 1)测量仪器能够检测并忠实地显示相对参考值的变化量。 2)所用测量器具的分辨力必须小于或等于被测参数允许误差的10%。（另一种方法：建议是控制上下限的10%） 分辨率不足的表现 当极差图中只有一、二或三种可能的极差值在控制界限内时。 如果极差图显示有四种可能的极差值在控制界限内，且超过1/4以上的极差值为零。 测量的基本概念——精密度与准确度 准确度 是指测量仪器的实际测量值（或测量平均值）与待测量值之真值的接近程度，即实际测量值偏离真实值的程度。 精密度 是指测量仪器所能区分出的微量程度或最小距离，即代表测量仪器对同一待测工件，以相同测量过程作重新测量时，其各测量结果的差异程度。 测量的基本概念——精密度与准确度 测量系统分析的应用和时机 应用 1）接受新测量设备的准则。 2）一种测量设备与另一种的比较。 3）评价怀疑有缺陷的量具的依据。 4）维修前后测量设备的比较。 分析时机 1）新生产的产品PV（零件变差）有不同时。 2）新量具EV(量具变差）有不同时。 3）新操作人员AV（人员变差）有不同时。 4）易损耗的量具必须注意其分析频率。 测量系统分析的准备 测量系统计划的制定 在进行测量系统分析之前，要制定测量系统分析计划。计划内容包括： 　１）确定需分析的测量系统。 　２）确定用于分析的待测参数/尺寸或质量特性。 　３）确定分析方法： 　４）确定测试环境； 　５）确定分析人员和测量人员。 　６）确定样品数量和重复计数的次数。 测量系统分析的准备 量具的准备 1）应针对具体尺寸/特性选择有关控制计划指定的量具。 2）确保要分析的量具是经过检定/校准且是合格的。 　3）量具的分辨力一般应小于被测参数允许差的1/10,在量具计数中，如有可能该数应取至最小刻度的一半。 测试操作人员和分析人员的选择 　１）在测量系统分析时，测试人员和分析人员不能是同一个人。 　２）应优先选择通常情况下实际使用所选定量具实施测量的操作工/检验人员为测量操作人员，以确保测试方法和测量结果与日后的正式生产或过程更改的实际情况相符。 　３）应选择熟悉测量系统分析方法的人员作为分析人员。 测量系统分析的准备 分析样本的选择 　1）样本应从实际生产或检验过程中选择，并考虑尽可能代表实际生产中存在的所有变差。 　2）如果一个量具适用于多个规格产品的尺寸/特性测量，在作该量具测量系统分析时，应选择其中一个过程变差最小规格的产品作样本，以避免过大的零件变差造成分析结果不准确。 　3）给每一个样本编号并贴上标签，但要避免测试操作人员事先知道编号，并确保按随机顺序进行测量。 测量系统变差——偏移 偏移 是测量结果的观测平均值与基准值的差值。 偏移的大小表示测量系统的准确度，偏移越小越好，反之越差 测量系统分析案例——偏移 造成过大的偏倚的可能原因 仪器、设备或夹具磨损 仪器需要校准基准的磨损或损坏 线性误差 使用了错误的量具不适当的校准或使用基准设定 仪器质量不良——设计或符合性 不同的测量方法——作业准备载入、夹紧、技巧 测量的特性不对 变形（量具或零件） 环境——温度、温度、振动、清洁 错误的假设 应用——零件数量、位置、操作者技能、疲劳、观测误差 测量系统变差的类型——线性 测量系统分析案例——线性 选择g≥5个零件，使这些测量涵盖这量具的整个工作量程。 对每个零件进行尺寸测量，从而确定其参考值，并确定涵盖了这量具的工作量程。 让经常使用该量具的操作者测量每个零件m≥10次。 要随机的选择零件，从而减少评价人对测量中偏倚的“记忆”。 使用散布图和统计软件， 检查员画出了线性图。 造成线性误差的可能原因 仪器需要校准，缩短校准周期 仪器、设备或夹具的磨损 维护保养不好—空气、动力、液体、过滤器、腐蚀、尘土、清洁 基准的磨损或损坏，基准