实验检流计、安培计及伏特计.docVIP

檢流計、安培計及伏特計實驗 一、目的 了解檢流計的構造及原理。 測量檢流計的內電阻值及滿格數電流。 如何利用檢流計及外電阻設計成一個安培計。 如何利用檢流計及外加電阻設計成一個伏特計。 二、原理： 最常用的直流基本電表為達法松檢流計(D’Arsonval galvanometer)，其結構如圖一所示[文獻一]，電流通過位於磁場中的可動線圈，產生轉矩使線圈發生轉動，其原理與電動機相同，磁場由一固定的馬蹄形永久磁鐵產生。 可動線圈是一可轉動的輕金屬架，上面繞有線圈，線圈上附有指針，隨線圈而偏轉，即能指示流經線圈的電流強度，如圖二所示[文獻二]。磁場是由一固定的永久磁鐵產生，把永久磁鐵略加變形，並在缺口中安放一塊圓柱形軟鐵，故在磁極和軟鐵之間的空隙中建立一個徑向分佈的磁場，所以兩邊的線圈均與磁場互相正交，磁場具有圓柱型對稱。 通以電流的導線置放於磁場中，受到磁力的作用，如圖三所示，長度為L的導線置於外加磁場中，若導線的電流為I，則導線所受到的磁力為[文獻三] =I()。 因為線圈導線均與磁場正交，如圖四所示[文獻一]，若線圈數為N，則線圈所受之力大小為 F=NILB 磁鐵所產生之磁通密度B單位為weber/m2，L單位為公尺，電流I的單位為安培，則磁力F的單位為牛頓。 線圈兩邊所受的力量大小相等，方向相反，但因作用在不同位置上故不能抵消，而且有轉矩τ產生，轉矩由力臂和磁力的向量積(外積)而得， 在此因為力臂和磁力互相垂直，由兩邊線圈導線所產生的總轉矩大小為 τ=2rF=2r(NILB)=NIAB 此處2r為線圈的寬度，A=2rL為線圈所圍的面積。線圈轉動之後，控制其轉動的彈簧亦被扭轉，彈簧所產生的扭力矩τ’與轉角成正比，τ’=k，k為彈簧扭轉的比例常數。線圈的平衡位置係使線圈在磁場內所產生之轉矩τ與彈簧所生之扭力矩τ’相等，即 τ=τ’ ；NIAB=k ; =()I 檢流計的偏轉角度與其流通過的電流成正比，對一檢流計而言，(NAB/k)是一常數與檢流計的構造及材質有關，藉由檢流計的偏轉角度即可量出電流大小。 檢流計的靈敏度可用下列兩種方式來決定： 電流靈敏度(Current Seneitivity)：為偏轉一刻度所需要的電流微安數。 百萬歐靈敏度(megohm sensitivity)：為加1伏特而使偏轉一整刻度所需要電路的百萬歐姆電阻數。百萬歐靈敏度為電流靈敏度的倒數，例如電流靈敏度為10微安，則百萬歐靈敏度則為0.1百萬歐/伏特。 使用檢流計時必須注意不可直接〝並聯〞跨接在電壓源上，因為電壓源的內阻很小，產生之電流會超過滿刻度，造成指針撞彎或燒毀線圈。檢流計使用時需串聯在所要測量的線路中，並估計所通過之電流不超過檢流計之最大承受力，用檢流計需注意電流的方向，以免指針倒轉和撞彎。 三、方法 使用檢流計作為測量儀器時，需先知道此檢流計滿格數所代表的電流Im及內電阻rG，有了這兩個數據才能依此設計出安培計及伏特計。 以半偏轉法測定檢流計的內阻rG： 假設圖五的檢流計內阻為rG，rS為可變分流電阻，R為限流電阻，ε為電池之電動勢，r為電池之內阻。當A、B兩點未連接分流電阻時，調限流電阻R直到檢流計指示滿格數，此後即不再改變R，則滿偏轉時檢流計的電流Im為 Im= 如果將分流電阻rS接上A，B兩點，則A，B的等效電阻rAB為 rAB=(rG//rS)= 將rS從零調到無限大，則rAB的範圍為0≦rAB≦rG，此時流經限流電阻R的電流為 I= 代入rAB的上下限得知Im≦I≦ε/(R+r)，若假設(R+r)＞＞rG則I≒Im，即調整分流電阻rS，限流電阻R上的電流改變量非常小，仍約為滿偏轉電流Im，改變rS只會改變IG和IS的比例，兩者之和大約不變。 ，IG+IS≒Im →IG≒()Im rS從零調到無限大時，IG從零到Im，當IG=IS≒Im/2時，rG≒rS，此時檢流計指針為滿偏轉的一半，分路電阻rS約等於待測的檢流計內阻rG，此種測定內電阻的方法稱為「半偏轉法」。 安培計之設計 一般檢流計所能承受的電流範圍相當小(約≦1mA)，若電路上的電流遠大於此範圍，直接把檢流計串聯在電路上量電流將會燒壞檢流計，故必須運用分流原理把多出的電流分岔(bypass)出去。如圖六所示，將檢流計G並聯一個分流電阻rS，形成一個安培計A，部分電流可經由rS通過，其關係為 IG rG=(I-IG) rS；rS=；I=IG (1+) rS越小所能測的電流I越大，若檢流計的電流為滿偏轉電流Im，則此安培計所能測的最大電流是 I=Im (1+) 假設檢流計的滿偏轉電流Im為1mA，內電阻rG為100Ω，只要使用0.01Ω的分流電阻rS，即可測達10A的大電流，所以並聯不同的分流電阻rS，可以測量不同範圍的電流。