传感器可靠性.docVIP

传感器的可靠性问题 ?一、基本概念与数学表示 ?1.基本概念 可靠性: 可靠性是指元器件、装置在规定的时间内，规定的条件下，具有规定功能的概率。 可靠性的经典定义着重强调四个方面: .概率:元器件、装置特性变化具有随机性，只能根据大量实验和实际应用进行统计分析。 (概率表示一个事件发生的可能性) .性能要求:即指技术判据。性能变化是绝对的，关键是允许变化范围大小。 .使用条件:包括环境条件(如温度、湿度、振动、冲击等)和工作状态(如负载的轻重) .时间:器件在一小时内保持规定性能当然比在10年内保持同样性能容易改变的多。其 它条件不变，时间愈长则可靠性越低。 ?2.失效: 元器件、装置失去规定的功能称为失效。 3.寿命: 元器件、装置失效前的一作时间。寿命是一个随机变量。 ?2.数学描述 可靠度R(t) ①描述元器件、装置在某一时刻前止常工作的可能性。它与时间有关 ②在实际数据统计中近似值为 此比值常称为残存率。 n(t)——试验开始，到时间t仍为失效的元器件、装置数 n——进行实验的元器件、装置总数。 2.失效率F(t) ①指元器件、装置在特定条件卜，在时间t以前失效的(概率)可能性。它是寿命这一随机变量的分布函数。 实际数据统计中近似值为 ②由于对立事件概率之和为I，所以有R(t)十F(t)=l 3.失效密度f(t) ①指元器件、装置在时间t内的单位时间内失效发生的(概率)可能性。是寿命这一随机变量的密度函数，即 在实际数据统计中它的近似值为 △n(t)——为t时刻附近，在△t时间间隔内失效的器件数 f(t)——用来描述器件失效的可能性在O到+∞的整个时间轴上分布情况。 4.故障率λ(t) 定义:故障率(瞬时失效率) λ(t) 指在t时刻尚未失效的元器件、装置在单位时间内失效的概率 描写在各时刻仍正常工作的元器件、装置失效的可能性。 在实际数据统计中它的近似值为 ①单位:(小时)-1：%/1000小时或10-9小时，λ(z)是比较常用的特征函数。 5.平均寿命m(常用缩写MTTF) (Mean Time Between Failure 可修复) (Mean Time to Failure 不可修复) ①定义: ②乃是寿命这一随机变量的均值。 ③它是标志元器件、装置平均能工作多长时间。 ④实际可以表示t时刻，在△t时间间隔内失效的概率(百分数)在此时间内失效的器件寿命应是t。平均寿命 二、失效规律及数学描述 1.(元器件及仪表装置的)失效规律 人们对出实验和使用中得到的人量数据进行统计:发现一般元器件及仪表装置的失效率和时问的关系，如下图所示。通常称为浴盆曲线。 曲线明显的分为三个阶段 1.早期失效阶段: 这一阶段失效率较高，但失效率随时间增加而下降。 失效上要由一种或几种具有一定普遍性的原因造成。 对于不同品种，不同工艺的器件，这一阶段延续的时间和失效比例不同。 应采取措施：严格操作，加强对原材料、半成品和成品的检验可减少这一阶段的失效。进行合理的筛选，以使尽可能在使用前，把早期失效的器件淘汰掉，可使出厂器件失效率达到或接近偶然失效期的较低水平。 2.偶然失效阶段 在这一阶段，失效率较低，少钊主变化不大，是器件的良好使用阶段。器件的失效率常常是由于多种(而每一种都不太严重)原因造成的。 3.耗损失效阶段 在此阶段到来时，失效率明显上升，致使大部分器件相继失效。 器件的失效是由全体性的原因造成。器件设计和工艺选择应考虑到尽举延迟耗损(老化)期的到米。使用期间时应尽快发现耗损期的到来，以便采取预防性措施(如整批更换器件)来保证系统正常工作。 半导体器件由于它本身的特点，在没有(转动)潮、雾、核辐射等恶劣外界作用条件下正常工作时，早期失效阶段表现明显，偶然失效阶段时间较长，而且失效率常有缓慢下降的趋势，一般难以观察到明显的耗损失效阶段。 2.威布尔分布: 适用范围较广，分析半导体寿命分布时应用较多。 失效密度函数 ——尺度参数，横坐标拉开程度不同，相当于时间的尺度不同。 ——形状参数 时，曲线随时间单调下降，常用来描述早期失效阶段的寿命分布； 时，为指数分布，常用来描述偶然失效阶段； 时，曲线有一峰值，愈大曲线愈趋近于正态分布，常用来描述耗损失效阶段的寿命分布。 γ——位置参数，决定曲线的起点位置。 一般γ=0，这时，则 当时， ——特征寿命 平均寿命 Γ——伽马函数 正好与偶然失效阶段相符。而偶然失效阶